形象!動(dòng)圖演示16種材料分析方法
15.X射線衍射XRD
分析原理:X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射,主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用,從而影響散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加,互相干涉而產(chǎn)生最大強(qiáng)度的光束稱(chēng)為X射線的衍射線。
滿(mǎn)足衍射條件,可應(yīng)用布拉格公式:2dsinθ=λ
應(yīng)用已知波長(zhǎng)的X射線來(lái)測(cè)量θ角,從而計(jì)算出晶面間距d,這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另一個(gè)是應(yīng)用已知d的晶體來(lái)測(cè)量θ角,從而計(jì)算出特征X射線的波長(zhǎng),進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。
以下是使用XRD確定未知晶體結(jié)構(gòu)分析過(guò)程:
XRD確定未知晶體結(jié)構(gòu)分析過(guò)程
16.納米顆粒追蹤表征
分析原理:納米顆粒追蹤分析技術(shù), 利用光散射原理,不同粒徑顆粒的散射光成像在CCD上的亮度和光斑大小不一樣,依此來(lái)確定粒徑尺寸; 合適濃度的樣品均質(zhì)分散在液體中可以得出粒徑尺寸分布和顆粒濃度信息, 準(zhǔn)確度非常高。
不同粒徑顆粒的散射光成像在CCD
實(shí)際樣品測(cè)試效果
不同技術(shù)的數(shù)據(jù)對(duì)比
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標(biāo)簽: 材料分析, 氣相色譜儀, FT-ICR質(zhì)譜儀
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