摘要：鈦合金由于具有比強度高、工作范圍寬和抗腐蝕能力良好等優(yōu)點，在航空航天、船舶、生物工程等領(lǐng)域獲得了廣泛的應(yīng)用。具有片層組織的α/β鈦合金（如TC4、TC11等）往往擁有良好的疲勞裂紋擴展抗力，其中的關(guān)鍵控制因素與由同一片層取向組成的集束單元的作用密切相關(guān)。為了深入研究片層組織中集束取向及不同集束組合對α/β鈦合金疲勞性能的影響，本研究采用了寬度方向含有幾個集束單元，厚度方向僅有一個集束單元的微尺度鈦合金樣品，對α/β片層組織TC11鈦合金進(jìn)行了應(yīng)力比為0.1的室溫拉-拉疲勞實驗，研究了相同加載條件下由不同集束單元組合的TC11樣品的疲勞性能。結(jié)合掃描電鏡下的電子背散射衍射技術(shù)，定量分析了集束單元中片層組織的滑移與變形的晶體學(xué)特征，探究了不同集束組合樣品中疲勞裂紋擴展路徑的晶體學(xué)特點，考察了集束單元組合與裂紋擴展路徑間的關(guān)系及對疲勞壽命的影響規(guī)律。

　　關(guān)鍵詞：鈦合金，疲勞，片層組織

　　聯(lián)系方式

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責(zé)任編輯：趙澤南

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