電化學(xué)阻抗譜的應(yīng)用及其解析方法
2013-08-28 13:05:17
作者:郭靜來(lái)源:=$docheckrep[1]?ReplaceBefrom($ecms_gr[befrom]):$ecms_gr[befrom]?>
交流阻抗發(fā)式電化學(xué)測(cè)試技術(shù)中一類十分重要的方法,是研究電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)和表面現(xiàn)象的重要手段。特別是近年來(lái),由于頻率響應(yīng)分析儀的快速發(fā)展,交流阻抗的測(cè)試精度越來(lái)越高,超低頻信號(hào)阻抗譜也具有良好的重現(xiàn)性,再加上計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步,對(duì)阻抗譜解析的自動(dòng)化程度越來(lái)越高,這就使我們能更好的理解電極表面雙電層結(jié)構(gòu),活化鈍化膜轉(zhuǎn)換,孔蝕的誘發(fā)、發(fā)展、終止以及活性物質(zhì)的吸脫附過(guò)程。
對(duì)于同一組抗譜,可以找到不止一個(gè)電路能滿足它的解析,而對(duì)于同一個(gè)電路,當(dāng)電路中的元件參數(shù)不同時(shí),可以得到完全不同類型的阻抗譜,因此依靠等效電路來(lái)推測(cè)電極過(guò)程的動(dòng)力學(xué)機(jī)構(gòu)是一個(gè)不可靠的方法。
查看全文:http://www.ecorr.org/ecorr/view-1147
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責(zé)任編輯:郭靜
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標(biāo)簽: 電化學(xué)阻抗譜, 應(yīng)用
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