"由于電流通過(guò)電極而導(dǎo)致電極電勢(shì)偏離平衡值的現(xiàn)象稱為電極的極化，描述電流密度與電極電勢(shì)之間關(guān)系的曲線稱作極化曲線。極化曲線測(cè)量技術(shù)按所控制的變量分類，可將極化曲線測(cè)量技術(shù)分為控制電流法和控制電位法。"

" 電化學(xué)阻抗譜技術(shù)（EIS）是一種準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)電化學(xué)技術(shù)，是用一個(gè)角頻率為ω的振幅足夠小的正弦波電流信號(hào)對(duì)一個(gè)穩(wěn)定的電極系統(tǒng)進(jìn)行擾動(dòng)時(shí)，相應(yīng)的電極電位就作出角頻率ω的正弦波響應(yīng)，從被測(cè)電極與參比電極之間輸出一個(gè)角頻率是ω的電壓信號(hào)，此時(shí)的電極系統(tǒng)的頻響函數(shù)，就是電化學(xué)阻抗。"

" 電位時(shí)間曲線(EVT)是指工作電極與參比電極之間開(kāi)路電位隨時(shí)間變化的曲線，可用于檢測(cè)自然腐蝕電位。自然腐蝕電位是腐蝕金屬電極的一個(gè)重要熱力學(xué)參數(shù)，在研究金屬腐蝕行為及分析腐蝕過(guò)程時(shí)具有重要意義，在防腐蝕工程技術(shù)中廣泛應(yīng)用。例如：結(jié)合電位- pH 圖判斷金屬的腐蝕傾向；在電偶腐蝕中判斷金屬的極性；確定某些局部腐蝕的特征電位和敏感電位區(qū)間；在陰極保護(hù)工程中，作為重要的技術(shù)參數(shù)和判據(jù)。"

" 動(dòng)電位掃描法，也叫線性電位掃描法，就是控制電極電位φ以恒定的速度變化，即dφ/dt=常數(shù)，同時(shí)測(cè)量通過(guò)電極的電流就可得到動(dòng)電位掃描曲線。這種方法在電分析化學(xué)中常稱為伏安法。此法又分為單程動(dòng)電位掃描法、三角波電位掃描法和連續(xù)三角波電位掃描法等。"

"電化學(xué)噪聲技術(shù)相對(duì)于傳統(tǒng)的腐蝕監(jiān)測(cè)技術(shù)的優(yōu)良特點(diǎn)：第一，它是一種原位無(wú)損的監(jiān)測(cè)技術(shù)，在測(cè)量過(guò)程中無(wú)須對(duì)被測(cè)電極施加可能改變腐蝕電極腐蝕過(guò)程的外界擾動(dòng)；第二，它無(wú)須預(yù)先建立被測(cè) 體系的電極過(guò)程模型；第三，它無(wú)須滿足阻納的三個(gè)基本條件；第四，檢測(cè)設(shè)備簡(jiǎn)單，且可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離監(jiān)測(cè)。"

" 石英晶體微天平是基于石英晶體的壓電效應(yīng)對(duì)其電極表面質(zhì)量變化進(jìn)行測(cè)量的儀器，是以AT切石英晶體作為接受器和能量轉(zhuǎn)換器，利用石英的壓電性質(zhì)實(shí)現(xiàn)能量轉(zhuǎn)換和傳感的。石英晶體屬D3點(diǎn)群、三方晶系潔凈的各向異性體，具有X軸（電軸）Y軸（機(jī)械軸）Z軸（光軸）三個(gè)結(jié)晶軸。在X軸或Y軸方向施加壓力或拉力，晶體由于形變極化而在相應(yīng)的晶面上產(chǎn)生等量的正、負(fù)電荷（加壓與拉伸產(chǎn)生的電荷極性相反），在Z軸方向施加外力，因硅、氧離子作對(duì)稱平移，無(wú)電荷形成，這就是石英晶體的正壓電效應(yīng)。"

"掃描開(kāi)爾文探針測(cè)量技術(shù)是一種測(cè)量真空或空氣中金屬表面電子逸出功的方法，采用振動(dòng)電容交流信號(hào)檢測(cè)技術(shù)，可以不接觸、無(wú)損傷的測(cè)量金屬表面腐蝕電位及極化曲線，克服了傳統(tǒng)的魯金毛細(xì)管方法在薄液膜下測(cè)量的局限性，能夠測(cè)定極少量液體甚至吸附分散水膜下金屬的電極電位，從技術(shù)層面上解決了大氣環(huán)境中不連續(xù)薄液膜下金屬電極電位的測(cè)定方法。"

" 微區(qū)電化學(xué)阻抗技術(shù)（LEIS）能精確確定局部區(qū)域固/液界面的阻抗行為及相應(yīng)參數(shù)，如局部腐蝕速率、涂層（有機(jī)、無(wú)機(jī)）完整性和均勻性、涂層下或與金屬界面間的局部腐蝕、緩蝕劑性能及不銹鋼鈍化/再鈍化等多種電化學(xué)界面特性。局部電化學(xué)阻抗技術(shù)是向被測(cè)電極施加一微擾電壓，從而感生出交變電流，通過(guò)使用兩個(gè)鉑微電極確定金屬表面上局部溶液交流電流密度來(lái)測(cè)量局部阻抗的技術(shù)。"

" 掃描振動(dòng)電極測(cè)量技術(shù)（SVET）是指在使用掃描振動(dòng)探針（SVP)，不接觸待測(cè)樣品表面的情況下，測(cè)量局部(電流，電位)隨遠(yuǎn)離被測(cè)電極表面位置的變化，檢定樣品在液下局部腐蝕電位的一種先進(jìn)技術(shù)。"

" SECM微探針在非常靠近基底電極表面掃描時(shí)，掃描微探針的氧化還原電流具有反饋的特性，并直接與溶液組分、微探針與基底表面距離以及基底電極表面特性等密切相關(guān)。因此，掃描測(cè)量在基底電極表面不同位置上微探針的法拉第電流圖像，即可直接表征基底電極表面形貌和電化學(xué)活性分布。SECM不但可以測(cè)量探頭和基底之間的異相反應(yīng)動(dòng)力學(xué)過(guò)程及本體溶液中的均相反應(yīng)動(dòng)力學(xué)過(guò)程，還可以通過(guò)反饋電信號(hào)描繪基底的表面形貌，研究腐蝕和晶體溶解等復(fù)雜過(guò)程。"