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掃描電化學(xué)顯微鏡

2016-05-31 10:26:36

SECM微探針在非常靠近基底電極表面掃描時(shí)，掃描微探針的氧化還原電流具有反饋的特性，并直接與溶液組分、微探針與基底表面距離以及基底電極表面特性等密切相關(guān)。因此，掃描測(cè)量在基底電極表面不同位置上微探針的法拉第電流圖像，即可直接表征基底電極表面形貌和電化學(xué)活性分布。SECM不但可以測(cè)量探頭和基底之間的異相反應(yīng)動(dòng)力學(xué)過(guò)程及本體溶液中的均相反應(yīng)動(dòng)力學(xué)過(guò)程，還可以通過(guò)反饋電信號(hào)描繪基底的表面形貌，研究腐蝕和晶體溶解等復(fù)雜過(guò)程。

總體概況

掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）是基于掃描隧道顯微鏡發(fā)展而產(chǎn)生出來(lái)的一種分辨率介于普通光學(xué)顯微鏡與STM之間的電化學(xué)原位測(cè)試新技術(shù)。SECM的最大特點(diǎn)是可以在溶液體系中對(duì)研究系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)、現(xiàn)場(chǎng)、三維空間觀測(cè)，有獨(dú)特的化學(xué)靈敏性。

詳細(xì)介紹

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國(guó)家材料環(huán)境腐蝕平臺(tái)中心擁有M370掃描電化學(xué)工作站，配置有掃描電化學(xué)顯微鏡，可用于檢測(cè)、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。

圖1 M370掃描電化學(xué)工作站