輪廓儀法運(yùn)用表面輪廓儀測(cè)量。該儀器有一個(gè)往復(fù)移動(dòng)的觸針,觸針與合適的具有放大和記錄功能的裝置相連。為了測(cè)量漆膜厚度,要先除去涂層的某一部份,再用儀器來(lái)記錄底材與圖層間形成的凸起部分的輪廓,如圖1所示。選擇具有與底材和漆膜表面的不平整度最匹配的觸針尖端半徑且能自由移動(dòng)的觸針的粗糙度儀或輪廓量規(guī)是最合適的。
總體概況
涂膜厚度將影響涂膜和各項(xiàng)性能,尤其是涂膜和物理力學(xué)性能受厚度的影響最明顯,因此,為保證涂膜能提供有效的保護(hù)作用,涂層應(yīng)均勻地達(dá)到一定厚度。同時(shí),對(duì)于涂層各種性能測(cè)定,為正確提供實(shí)驗(yàn)結(jié)果,準(zhǔn)確測(cè)定并報(bào)告涂膜厚度是必不可少的。通常,規(guī)定的涂膜厚度可用平均厚度或最小厚度表示。涂膜厚度測(cè)量有濕膜測(cè)量和干膜測(cè)量。干膜往往是由濕膜厚度決定的,因此近年常進(jìn)行濕膜厚度的測(cè)定,用以控制干膜厚度。
涂層厚度檢測(cè)相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):色漆和清漆 漆膜厚度的測(cè)定
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T13452.2-2008
發(fā)布時(shí)間:2008年5月14日
實(shí)施日期:2008年10月1日
標(biāo)準(zhǔn)概述:本部分規(guī)定了一系列用于測(cè)量涂敷至底材上的涂層的厚度的方法,包括測(cè)量濕膜厚度、干膜厚度、未固化粉末涂層厚度及粗糙表面上漆膜厚度的方法。
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標(biāo)簽: 涂層, 材料腐蝕平臺(tái), 厚度, 輪廓儀法

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