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  2. 電磁軌道發(fā)射用電樞表面損傷及其防護(hù)研究進(jìn)展
    2024-12-25 13:21:35 作者:林永強(qiáng),姚萍屏,王興,周海濱,康麗,袁仔豪,鄧敏文 來源:中國(guó)表面工程 分享至:
    • 0 前言

    • 電磁軌道發(fā)射是利用電磁能替代機(jī)械能和化學(xué)能進(jìn)行發(fā)射的新型發(fā)射技術(shù),它突破了傳統(tǒng)意義上火炮的局限性,能實(shí)現(xiàn)超過 2 km/s 的極高速度,具有發(fā)射速度快、射程遠(yuǎn)、安全性能高、可控性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),應(yīng)用前景廣闊[1]。

    • 電磁軌道發(fā)射裝置由儲(chǔ)能系統(tǒng)、脈沖功率調(diào)節(jié)系統(tǒng)、電磁軌道發(fā)射器和遠(yuǎn)程遙控系統(tǒng)組成[2],如圖1 所示。儲(chǔ)能系統(tǒng)在發(fā)射過程中,通過脈沖功率調(diào)節(jié)系統(tǒng)將積蓄的能量調(diào)節(jié)為瞬時(shí)超大功率電能輸出給電磁軌道發(fā)射器,從而激發(fā)磁場(chǎng),電樞在洛倫茲力的作用下,推動(dòng)負(fù)載加速發(fā)射以達(dá)到預(yù)定速度,遠(yuǎn)程遙控系統(tǒng)通過信息指令實(shí)現(xiàn)對(duì)能量的控制。其中,電磁軌道發(fā)射器由電樞、軌道以及絕緣支撐體組成,如圖2 電磁軌道發(fā)射樞軌載流摩擦副及裝配彈丸示意圖所示。電樞和軌道是主要運(yùn)動(dòng)接觸部件,常稱為樞軌載流摩擦副。

    • 圖1 電磁軌道發(fā)射裝置組成示意圖

    • Fig.1 Schematic diagram of the composition an electro-magnetic rail launcher

    • 圖2 電磁軌道發(fā)射樞軌載流摩擦副及裝配彈丸示意圖

    • Fig.2 Schematic diagram of electromagnetic rail launching armature rail carrier friction pair and assembled projectile

    • 由于電-磁-熱-力多場(chǎng)耦合條件下的極端服役工作環(huán)境,即有大電流(~MA 級(jí))、強(qiáng)磁場(chǎng)(~T 級(jí))、高熱量(~103 K 級(jí))、強(qiáng)作用力(~106 N 級(jí))通過樞軌接觸表面,樞軌載流摩擦副不可避免地會(huì)產(chǎn)生一定的損傷。其中,電樞將彈丸推動(dòng)至超高速,以較小的電流通流面積導(dǎo)通回路中的所有電流,承擔(dān)著發(fā)射系統(tǒng)產(chǎn)生的大部分能量,是系統(tǒng)中將電能轉(zhuǎn)化為彈丸動(dòng)能的關(guān)鍵部件,表面狀態(tài)會(huì)直接影響樞軌載流摩擦副的服役性能,并與發(fā)射裝置的效率和精度密不可分,其損傷不僅導(dǎo)致電樞自身性能的下降,同時(shí)會(huì)降低軌道的使用壽命,制約其發(fā)展前景[2]。

    • 為解決發(fā)射過程中電樞損傷問題,研究者將研究重點(diǎn)放在電樞損傷機(jī)理和損傷防護(hù)技術(shù)上。目前,對(duì)于電樞損傷的試驗(yàn)驗(yàn)證研究主要是通過對(duì)發(fā)射后電樞進(jìn)行回收,觀察其經(jīng)過一個(gè)服役過程后的表面形貌,從而判斷是否出現(xiàn)損傷以及損傷的嚴(yán)重程度; 對(duì)于電樞損傷的模擬與仿真主要是通過調(diào)節(jié)不同的參量,包括過盈量、電流密度以及電流波形等,分析其在服役過程中各項(xiàng)性能的變化,進(jìn)而推導(dǎo)出服役過程后的損傷情況。

    • 本文綜述了近年來國(guó)內(nèi)外研究者對(duì)電磁軌道發(fā)射電樞損傷的研究進(jìn)展。從典型損傷特征及其影響因素,損傷機(jī)制和改進(jìn)手段等方面進(jìn)行闡述,歸納了電樞損傷的分類和特征,總結(jié)了對(duì)應(yīng)的理論分析,梳理了不同的防護(hù)優(yōu)化技術(shù)??梢园l(fā)現(xiàn),電樞損傷研究發(fā)展至今,針對(duì)其損傷機(jī)理的探究仍不夠深入,尚不具備一套完整的理論體系,損傷防護(hù)處理技術(shù)尚不成熟。

    • 1 典型損傷

    • 1.1 載流摩擦磨損

    • 載流摩擦磨損是指在導(dǎo)入電流后,兩金屬表面相互接觸并由于發(fā)生相對(duì)運(yùn)動(dòng)出現(xiàn)一系列摩擦學(xué)行為而產(chǎn)生的磨損[3]。由于電樞自身的機(jī)械屬性和預(yù)緊力條件下的電接觸特征,在大電流、高運(yùn)動(dòng)速度的極端服役過程中會(huì)不可避免地產(chǎn)生載流摩擦磨損。這種損傷主要是由于樞軌間接觸斑點(diǎn)在預(yù)緊力、溫度升高和電磁壓力增大下產(chǎn)生黏著,而后在摩擦力的作用下相互磨損導(dǎo)致的,即損傷發(fā)生于舊接觸斑點(diǎn)損壞而消失,新接觸斑點(diǎn)不斷形成的循環(huán)往復(fù)過程中。區(qū)別于一般的機(jī)械磨損,載流摩擦磨損不僅要受到電樞自身機(jī)械結(jié)構(gòu)的影響,其還處于大電流場(chǎng)中,受到電流熱效應(yīng)的制約,同時(shí)間在發(fā)射過程中會(huì)出現(xiàn)短暫分離的接觸特性導(dǎo)致電樞存在嚴(yán)重的電弧磨損,因此,電樞的載流摩擦磨損主要包括機(jī)械磨損、電流磨損及電弧磨損等形式。

    • 1.1.1 機(jī)械磨損

    • GAO 等[4]在考慮了預(yù)緊力和電磁壓力的共同效應(yīng)下,采用 Archard 磨損模型對(duì)樞軌接觸進(jìn)行有限元仿真,研究預(yù)緊力和電磁壓力(洛倫茲力在法向上的分力)對(duì)電樞磨損的影響,結(jié)果表明,在發(fā)射過程中,電磁壓力提供了大部分的樞軌接觸力,并發(fā)現(xiàn)最大接觸壓力分布于電樞尾翼兩側(cè),這也是電樞磨損集中的區(qū)域。MERRILL[5]建立了樞軌接觸界面的熔化潤(rùn)滑模型,嚴(yán)格控制焦耳熱的影響,重點(diǎn)對(duì)發(fā)射過程中電樞產(chǎn)生的機(jī)械磨損進(jìn)行研究,其結(jié)果顯示,法向載荷的增加會(huì)加劇電樞的磨損。主要是因?yàn)榉ㄏ蜉d荷的增大會(huì)導(dǎo)致樞軌間機(jī)械混合層厚度逐漸增加,并在發(fā)射過程中產(chǎn)生裂紋。當(dāng)裂紋擴(kuò)展至一定程度后,一部分電樞基體材料就會(huì)和樞軌間機(jī)械混合層一起剝落,從而導(dǎo)致嚴(yán)重的損傷。因此,電樞的機(jī)械磨損主要是由其復(fù)雜的受力條件導(dǎo)致,主要發(fā)生在樞軌接觸的低速階段。

    • 1.1.2 電流磨損

    • 電流磨損通常指電接觸材料在導(dǎo)入電流后,由于滑動(dòng)摩擦以及電阻而引起的熱量和磨損現(xiàn)象,熱量的產(chǎn)生會(huì)導(dǎo)致溫度升高,進(jìn)而引起材料發(fā)生熱膨脹、熱應(yīng)力、氧化等現(xiàn)象[6-7]。一方面,升溫會(huì)導(dǎo)致表面氧化物的生成,造成電接觸材料間接觸電阻的增大和潤(rùn)滑性的降低;另一方面,電流產(chǎn)生的焦耳熱會(huì)造成材料表面層軟化,降低摩擦層與基體的結(jié)合程度,從而影響材料的摩擦學(xué)性能[8]。電樞在 MA 級(jí)大電流作用下在軌道間高速滑動(dòng),樞軌間摩擦界面溫度迅速升高。電流磨損成為電樞載流摩擦磨損的重要特征之一。SENOUCI 等[9]在進(jìn)行滑動(dòng)電接觸摩擦磨損試驗(yàn)中對(duì)比了是否通入電流的磨損情況,結(jié)果表明,電流的加入會(huì)加劇材料的磨損。這是由于通入電流會(huì)在樞軌摩擦副中產(chǎn)生電流熱效應(yīng),釋放熱量破壞表面潤(rùn)滑膜,導(dǎo)致樞軌界面粗糙度增加,磨料性能提升,力學(xué)性能下降,發(fā)生電流磨損,磨損率增大。WATT[10]對(duì)不同電流條件下發(fā)射后電樞進(jìn)行回收處理,通過電樞質(zhì)量損失測(cè)定和表面磨損機(jī)械輪廓測(cè)定兩種方法確定電樞損傷量,如圖3 所示。可以發(fā)現(xiàn),電樞損傷量與電流值的大小近似成一階線性正比。

    • 圖3 不同電流條件下電樞質(zhì)量損失和表面磨損量[10]

    • Fig.3 Armature mass loss and surface wear under different current conditions[10]

    • 1.1.3 電弧磨損

    • 電樞在軌道間非全約束條件下進(jìn)行的高速飛升,常導(dǎo)致電樞與軌道發(fā)生短暫分離而形成電弧。 NAGASAWA 等[11]重點(diǎn)關(guān)注電弧磨損導(dǎo)致的載流摩擦磨損,研究表明電弧產(chǎn)熱是導(dǎo)致材料熱熔化的主要來源之一。CHEN 等[12]利用高速攝像機(jī)記錄了電弧磨損的全過程,結(jié)果表明磨損率與累計(jì)電弧放電能量近似成正比,但在合理范圍內(nèi)加大法向力以增加摩擦副接觸面積,可以有效降低電弧磨損帶來的影響。可以發(fā)現(xiàn),以弧光形式散發(fā)的熱量會(huì)導(dǎo)致樞軌接觸界面溫度急劇升高,導(dǎo)致材料發(fā)生嚴(yán)重熔化剝落。

    • 目前研究者認(rèn)為載流摩擦磨損是在載流條件下,機(jī)械能和電能相互耦合,二者互相影響共同作用下的結(jié)果。圖4 展現(xiàn)了 Al-Zn-Mg-Cu 系電樞在高速載流試驗(yàn)過程中所表現(xiàn)出的“三階段”典型載流摩擦磨損形貌。可以看到,在電流較小的上升階段,表面形貌主要以犁溝為主;在電流最大的峰值階段,表面形貌主要為犁溝、熔融狀組織等;在電流下降階段,樞軌間出現(xiàn)電弧,熱量急劇增加,表面形貌主要為熔融狀組織等。

    • 圖4 “三階段”載流摩擦磨損形貌

    • Fig.4 “Three-stage” current-carrying friction and wear morphology

    • 1.2 熱熔化

    • 在電磁軌道發(fā)射過程中,由于樞軌接觸面間的接觸電阻和電樞自身體電阻,當(dāng)電流經(jīng)軌道流向電樞時(shí)會(huì)產(chǎn)生焦耳熱。另一方面,為保證樞軌間良好的電接觸性能,樞軌間需緊密配合,存在預(yù)緊力。電樞在磁場(chǎng)中還要承受極大的電磁擴(kuò)張力,發(fā)射過程中,隨著樞軌間相對(duì)運(yùn)動(dòng)速度呈指數(shù)增長(zhǎng),二者相互摩擦而產(chǎn)生大量的機(jī)械摩擦熱。在兩種不同形式的熱量疊加作用下,電樞表面溫度陡然增加。當(dāng)表面溫度高于自身熔點(diǎn)時(shí),電樞表層會(huì)向熔融態(tài)轉(zhuǎn)變,發(fā)生熱熔化,并在樞軌接觸面間形成一層液態(tài)金屬膜(Liquid Metal Film,LMF)。

    • 李鶴等[13]開展了電磁軌道發(fā)射電樞接觸界面溫度場(chǎng)仿真研究,結(jié)合試驗(yàn)數(shù)據(jù),初步揭示了焦耳熱和摩擦熱對(duì)電樞溫度場(chǎng)分布的影響規(guī)律,為電樞表面熔化過程提供了基礎(chǔ)理論。CHEN 等[14]設(shè)計(jì)電樞的相關(guān)結(jié)構(gòu),使得樞軌接觸表面全部轉(zhuǎn)化為熔體磨損,建立了熔體磨損與發(fā)射參數(shù)、材料參數(shù)之間的構(gòu)效關(guān)系。在電樞高速運(yùn)動(dòng)的同時(shí),液態(tài)金屬膜厚度也在不斷增加,其本身也會(huì)產(chǎn)生粘滯熱,加劇電樞表面的熱熔化。STSFANI 等[15]在考慮液態(tài)金屬膜的影響下研究了固體電樞表面的熔化波侵蝕,發(fā)現(xiàn)電樞表面經(jīng)歷了一個(gè)快速加熱和熔化過程。同時(shí),不同發(fā)射階段下樞軌接觸狀態(tài)不同,引發(fā)電樞熱熔化的熱源占比會(huì)發(fā)生改變,電樞表面不同位置的熔化深度也不同。CHEN 等[16]基于電磁軌道炮的三維多物理場(chǎng)耦合模型,通過建立仿真模型和進(jìn)行縮比試驗(yàn),對(duì)電樞熔化區(qū)域的熱源占比、最大熔化深度位置演變以及電樞損傷形貌進(jìn)行了分析,如圖5 所示??梢园l(fā)現(xiàn),接觸電阻和電樞的體電阻產(chǎn)生的焦耳熱是電樞熔化的主要因素,熔化深度最大位置基本保持不變,為最先開始熔化區(qū)域。該仿真模型能為后續(xù)研究電樞熱熔化過程和預(yù)測(cè)電磁軌道發(fā)射過程中的全尺寸溫度特性提供幫助。

    • 目前,關(guān)于電樞熱熔化產(chǎn)熱來源的研究理論已相對(duì)成熟,主要是摩擦熱和焦耳熱。但對(duì)于電樞運(yùn)動(dòng)過程中不同熱源產(chǎn)熱量的變化及其對(duì)電樞表面熱熔化影響程度大小的時(shí)空演化特性研究尚淺,缺乏系統(tǒng)的理論指導(dǎo)。

    • 圖5 電樞熔化區(qū)域熱源占比、最大熔化深度位置演變及電樞典型損傷形貌示意圖[16]

    • Fig.5 Schematic diagrams of the heat source percentage in the melting region of the armature, the evolution of the location of the maximum melting depth and the typical damage morphology of the armature[16]

    • 1.3 轉(zhuǎn)捩燒蝕

    • 由于樞軌載流摩擦副自身結(jié)構(gòu)的局限性,在極端服役工況下,電樞在發(fā)射過程中產(chǎn)生輕微垂直振動(dòng),與軌道發(fā)生失接觸或者接觸壓力不足,使樞軌間的接觸方式由“固-固”或“固-液-固”轉(zhuǎn)變?yōu)?“固-等離子體-固”,這種轉(zhuǎn)變稱之為轉(zhuǎn)捩[17],如圖6 所示。轉(zhuǎn)捩的產(chǎn)生會(huì)導(dǎo)致樞軌接觸面上產(chǎn)生電弧擊穿現(xiàn)象,在電樞表面引起嚴(yán)重?zé)g,從而加劇電樞的熱熔化損傷,破壞電樞的效能。典型的轉(zhuǎn)捩燒蝕損傷形貌如圖7 所示[18]。

    • 圖6 轉(zhuǎn)捩燒蝕產(chǎn)生示意圖

    • Fig.6 Schematic diagram of transition erosion generation

    • 圖7 典型的轉(zhuǎn)捩燒蝕損傷形貌[18]

    • Fig.7 Typical transition erosion damage topography[18]

    • 為達(dá)到電磁軌道發(fā)射過程中樞軌摩擦副間無(wú)電弧接觸的狀態(tài)要求,以確保其精確性和安全性,開展對(duì)于樞軌間發(fā)生轉(zhuǎn)捩的內(nèi)在機(jī)理性研究是十分有必要的。研究者從樞軌接觸界面材料熱應(yīng)力、熔化波燒蝕模型以及過盈壓力和電磁壓力等方面展開了分析,當(dāng)電樞因各種外界因素發(fā)生輕微形變或者材料損失時(shí),轉(zhuǎn)捩產(chǎn)生的幾率將大大增加。關(guān)曉存等[19] 在假設(shè)電樞磨損主要為熔化磨損的前提下,通過仿真分析和試驗(yàn)驗(yàn)證研究了電樞表面磨損區(qū)域分布和磨損量大小,為建立材料損失與轉(zhuǎn)捩的關(guān)系奠定了理論基礎(chǔ)。朱仁貴等[20]研究了樞軌接觸間過盈壓力和電磁壓力大小在電樞運(yùn)動(dòng)過程中的變化,發(fā)現(xiàn)由于電樞的載流摩擦磨損,過盈壓力不斷減小,當(dāng)二者合力降低到一定闕值時(shí),轉(zhuǎn)捩發(fā)生概率增加。在現(xiàn)有理論基礎(chǔ)上,轉(zhuǎn)捩燒蝕在發(fā)射參數(shù)表現(xiàn)為膛口電壓的突然升高,炮口電阻增大,脈沖電流處于下降階段。陳允等[21]在研究發(fā)射過程中滑動(dòng)電接觸特性的試驗(yàn)中,對(duì)炮口電壓和電樞電流進(jìn)行了測(cè)量,研究表明:轉(zhuǎn)捩經(jīng)常發(fā)生于電流下降至峰值電流 80%~90%的時(shí)刻。在此基礎(chǔ)上,王志恒等[22]利用有限元軟件 ANSYS Workbench 對(duì)電樞轉(zhuǎn)捩過程進(jìn)行了模擬仿真,分析了電流下降段電樞內(nèi)部通流情況,電流下降段電樞內(nèi)部和表面的電流分布如圖8 所示,可以看出在電流下降段電樞內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生渦流,內(nèi)表面電磁力發(fā)生反轉(zhuǎn),導(dǎo)致樞軌間接觸壓力不足,電弧放電,發(fā)生轉(zhuǎn)捩;進(jìn)而分析了電流下降率的影響,結(jié)果表明:電流下降率越大,電樞發(fā)生轉(zhuǎn)捩的可能性越大,但是此試驗(yàn)未能考慮電樞運(yùn)動(dòng)對(duì)電流分布的影響。

    • 圖8 電流下降段電樞內(nèi)部和表面的電流分布

    • Fig.8 Current distribution inside and on the surface of the armature in the current drop section

    • 國(guó)內(nèi)外研究者對(duì)轉(zhuǎn)捩燒蝕的產(chǎn)生機(jī)理提出了許多看法,包括電樞材料載流摩擦磨損過大且損傷區(qū)域不均一導(dǎo)致樞軌間無(wú)法共面接觸,脈沖電流在下降階段產(chǎn)生的渦流使內(nèi)部磁力反轉(zhuǎn)導(dǎo)致的電樞尾部離開軌道表面等。從其定義本身來看,發(fā)生轉(zhuǎn)捩燒蝕時(shí)必然伴隨著樞軌間的失接觸,產(chǎn)生由等離子體填充的空間間隙,而這種空間間隙極大程度上是載流摩擦磨損帶來的,其帶給電樞材料的物質(zhì)損失直接導(dǎo)致樞軌間空間間隙的存在,從而引起失接觸位置產(chǎn)生電弧擊穿現(xiàn)象,導(dǎo)致轉(zhuǎn)捩的發(fā)生,其產(chǎn)生機(jī)理目前尚不能用單一一種理論體系成功加以說明。

    • 2 典型損傷影響因素

    • 為了研究電樞載流摩擦磨損,熱熔化以及轉(zhuǎn)捩燒蝕等典型損傷形式的影響因素,近年來,大量研究者采用試驗(yàn)現(xiàn)象分析和數(shù)值模擬兩種方法相結(jié)合,分別從服役變量和電樞自身參數(shù)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)論證。

    • 2.1 服役變量

    • 針對(duì)服役變量,研究者們以電流波形、界面液層厚度、軌道通流長(zhǎng)度、極性、滑行距離以及摩擦因數(shù)等因素為切入點(diǎn),通過調(diào)節(jié)不同的外界影響量進(jìn)行電樞損傷試驗(yàn)和仿真,探究其損傷程度的大小。

    • LI 等[23]根據(jù)接觸面金屬液態(tài)膜(LMF)和 Reynolds 方程,在溫度、應(yīng)力和電磁場(chǎng)耦合作用下,建立了熱彈性磁流體力學(xué)模型,分析了電流波形對(duì)表面熱熔化速率和 LMF 厚度的影響,結(jié)果表明:電流波形越平滑,電樞表面熱熔化速度越慢,最小 LMF 厚度越??;張寶[24]舍棄常規(guī)研究,認(rèn)為樞軌接觸界面溫度相同的非真實(shí)條件,在考慮真實(shí)具體的界面溫度分布下,建立了界面液層磁場(chǎng)、熱場(chǎng)以及潤(rùn)滑流場(chǎng)等多物理場(chǎng)耦合模型,分析了不同厚度液層的基本流體屬性及其降溫作用,在一定程度上還原了電樞與軌道間在高速相對(duì)滑動(dòng)時(shí)產(chǎn)生的載流摩擦磨損,但未考慮引入液層后電接觸性能的變化; 李天亮等[25]在基于面電流假設(shè),建立了電樞電磁感應(yīng)強(qiáng)度場(chǎng)計(jì)算模型和電樞所受電磁力模型,以軌道通流長(zhǎng)度這一參數(shù)為變量進(jìn)行研究,觀察電樞所受到的電磁力和磨損情況,綜合各項(xiàng)性能要求提出了 “4 倍口徑法則”。但該模型假設(shè)條件苛刻,不能完全運(yùn)用于實(shí)際電樞運(yùn)行過程;宋聯(lián)美等[26]在自制的載流電弧試驗(yàn)機(jī)上進(jìn)行了極性對(duì)載流電弧的演化過程和燒蝕影響試驗(yàn),結(jié)果表明:不同極性條件下的載流電弧能量不同,陽(yáng)極材料蒸發(fā)氣化是電弧燃蝕的主要因素,抑制陽(yáng)極材料的蒸發(fā)氣化,縮短樞軌間電弧存在時(shí)間能有效減輕電樞電弧磨損,這為保護(hù)電樞和減少電樞耗材提供了理論思路。但是該試驗(yàn)未考慮客觀磁場(chǎng)的存在以及電樞高速運(yùn)動(dòng)下的機(jī)械摩擦熱對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的干擾。張玉燕等[27]在傳熱學(xué)理論的基礎(chǔ)上建立了電接觸摩擦副的二維有限元模型,并進(jìn)行電接觸構(gòu)件表面溫度測(cè)量試驗(yàn),以電樞為研究對(duì)象,觀察了電樞最高溫度出現(xiàn)的時(shí)間點(diǎn)以及隨電流、滑行距離以及接觸面摩擦因數(shù)等等參量的變化趨勢(shì),探究了電樞高溫升的因素,為高速載流滑動(dòng)電接觸中電樞材料的選取及如何降低溫升、提高電接觸性能提供了參考依據(jù)。但是該試驗(yàn)和模擬模型都以單一變量進(jìn)行研究,未考慮諸如接觸面摩擦因數(shù)在滑動(dòng)過程的動(dòng)態(tài)變化對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響。綜合以上研究可以發(fā)現(xiàn),全面考慮服役多因素耦合的研究仍然存在不足。

    • 2.2 電樞自身參數(shù)

    • 對(duì)于電樞自身參數(shù),研究者們通過調(diào)整不同的電樞尺寸,包括口徑高度、尾部長(zhǎng)度、尾翼傾角等,設(shè)計(jì)樞軌間過盈尺寸、接觸方式等,觀察電樞在不同自身參數(shù)和差異化樞軌間狀態(tài)下的損傷。

    • LI 等[28]通過試驗(yàn)研究了電樞口徑高度對(duì)電樞尾部沖蝕的影響,總結(jié)了不同線電流密度下電樞電流熔體侵蝕的研究結(jié)果,并利用有限元軟件 COMSOL 分析了樞軌間的初始接觸位置及其接觸界面的電流密度分布;LI 等[23]根據(jù)接觸面金屬液態(tài)膜(LMF)和 Reynolds 方程,在溫度、應(yīng)力和電磁場(chǎng)耦合作用下,建立了熱彈性磁流體力學(xué)模型,分析了電樞尾部長(zhǎng)度和角度對(duì)表面熔化速率和 LMF 厚度的影響,結(jié)果表明:一定范圍內(nèi)電樞尾翼長(zhǎng)度越大,電樞表面熔化速度越慢,最小 LMF 厚度越??; 杜翔宇等[29]通過樞軌間一般的電接觸特性設(shè)計(jì)了樞軌間理想的接觸壓力,基于反向加載法改進(jìn)了電樞的過盈尺寸和形態(tài),并對(duì)裝配過盈電樞和非過盈電樞的發(fā)射器進(jìn)行仿真研究,觀察發(fā)射過程中某些典型時(shí)刻電樞內(nèi)部電流和焦耳熱集中情況。該研究為電樞的結(jié)構(gòu)尺寸設(shè)計(jì)提供了新的思路,但其研究適應(yīng)性不強(qiáng),試驗(yàn)觀察結(jié)果沒有連續(xù)性,只適用于某些特殊時(shí)刻。CHENG 等[30]采用 ANSYS 與試壓紙相結(jié)合的方法對(duì)電樞材料接觸特性進(jìn)行了研究,結(jié)果表明:樞軌接觸特性在一定范圍內(nèi)與電樞材料強(qiáng)度成正比。LIU 等[31]為研究樞軌間接觸方式對(duì)電磁軌道發(fā)射性能的影響,采用有限元法分別計(jì)算了 C 型電樞在不同接觸面積和接觸位置下的電磁推力、電磁壓力和電流密度,并對(duì)不同接觸方式下的計(jì)算結(jié)果進(jìn)行了比較,結(jié)果表明:電樞尾部與軌道的分離會(huì)導(dǎo)致電磁壓力急劇下降,電樞尾部與軌道需要保持緊密接觸,以保證穩(wěn)定的電流傳遞,實(shí)現(xiàn)電樞與軌道完全接觸的電氣性能,這對(duì)改善樞軌接觸特性以及有效減輕甚至是防止電樞發(fā)生電弧磨損具有參考價(jià)值。

    • 3 典型損傷機(jī)制模擬與仿真趨勢(shì)分析

    • 電樞發(fā)生損傷是電-磁-熱-力多場(chǎng)耦合服役環(huán)境下的結(jié)果。在電磁軌道發(fā)射過程中,各種內(nèi)外界因素的交互作用導(dǎo)致電樞的服役效能下降,其中接觸應(yīng)力集中、電流密度集中以及熱量集中是電樞發(fā)生損傷的三種主要原因。國(guó)內(nèi)外研究者們基于此,通過不同的機(jī)制模擬與仿真展開了深入研究。

    • 3.1 接觸應(yīng)力集中

    • 樞軌載流摩擦副接觸界面兼具摩擦接觸和電接觸的特性,其共面性和粗糙性導(dǎo)致了損傷機(jī)制的多場(chǎng)耦合性,是一種特殊的電接觸形式。宏觀上光滑的接觸表面在微觀上是粗糙不平的,其粗糙度一般使用平均斜度 masp 和平均高度 σasp 進(jìn)行表證,其中 σasp,u與 σasp,d分別為接觸面上、下兩側(cè)凸起的平均高度,masp,u 與 masp,d 分別為接觸面上、下兩側(cè)表面的平均斜度。微觀接觸表面示意圖如圖9 所示[32],可以看出微觀有效接觸面是由一個(gè)個(gè)離散的接觸點(diǎn)構(gòu)成,以此形成的接觸面為有效接觸面。研究指出有效接觸面積僅為名義接觸面積的 1%左右[3]。這些接觸點(diǎn)承擔(dān)著電流傳導(dǎo)和應(yīng)力承載的作用。

    • 圖9 樞軌微觀有效接觸界面示意圖[32]

    • Fig.9 Schematic diagram of the microscopic effective contact interface of the pivot rail[32]

    • 一方面,樞軌在加載裝配后會(huì)導(dǎo)致接觸應(yīng)力集中于電樞局部區(qū)域。另一方面,預(yù)緊力和電磁壓力在發(fā)射過程中集中加載于樞軌界面的接觸點(diǎn),從而帶來接觸應(yīng)力集中。電樞表面接觸應(yīng)力集中分布區(qū)域如圖10 所示,可以看出有部分區(qū)域接觸應(yīng)力為 0,即失接觸,接觸應(yīng)力集中于某一塊區(qū)域[33]。田振國(guó)等[34]在考慮了樞軌間摩擦和電磁熱效應(yīng)的基礎(chǔ)上,利用 Ansys 軟件分析了樞軌間接觸應(yīng)力分布隨電樞運(yùn)動(dòng)的變化特性。侯俊超[35]基于“Marshall 法則”,利用 ANSYS LS-DYNA 有限元軟件模擬出樞軌間的機(jī)械預(yù)緊力和電磁壓力,建立了電樞所受接觸應(yīng)力的理論計(jì)算模型。范薇等[36]提出“安克法則”的瞬態(tài)應(yīng)用方法,指出電樞在運(yùn)動(dòng)過程中所受接觸力大小應(yīng)超過“1 g/1 A”,以此規(guī)避電樞接觸失效問題。

    • 圖10 電樞裝配后表面接觸應(yīng)力分布[33]

    • Fig.10 Surface contact stress distribution after armature assembly[33]

    • 電樞和軌道自身的結(jié)構(gòu)尺寸參數(shù)對(duì)樞軌間的接觸狀態(tài)影響巨大,間接地決定著接觸應(yīng)力集中的位置。研究者們從電樞和軌道的形狀,大小以及樞軌間匹配性等方向進(jìn)行思考,研究了避免接觸應(yīng)力集中的最優(yōu)結(jié)構(gòu)尺寸參數(shù)。白春艷等[37]利用數(shù)值分析的方法,研究了 V 形、U 形以及 Saddle 形 3 種不同形狀電樞在發(fā)射過程中的接觸應(yīng)力分布情況,研究表明,在相同的電磁軌道發(fā)射系統(tǒng)條件下,V 形電樞的服役接觸應(yīng)力值最大,Saddle 形電樞的服役接觸應(yīng)力值最小,故 Saddle 形電樞為最優(yōu)選擇。馮登等[33]利用 ABAQUS 有限元分析軟件,對(duì)固體 C 形電樞各結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)接觸應(yīng)力分布的影響,研究表明減小電樞尾翼長(zhǎng)度和增大電樞肩部厚度能促進(jìn)接觸應(yīng)力分布的均勻性。李鶴等[38]設(shè)計(jì)并比較了凸形和凹形兩種不同截面形狀軌道對(duì)樞軌接觸特性的影響,其結(jié)果顯示凸形軌道具有更好的機(jī)械和電流特性。在此基礎(chǔ)上,劉峰等[39]對(duì)電樞力學(xué)模型進(jìn)行有限元分析,設(shè)計(jì)了一種新型 H 形電樞,并通過簡(jiǎn)化的懸臂梁模型確定過盈尺寸,以此分析改進(jìn)前后樞軌界面接觸應(yīng)力的分布情況,如圖11 所示,可以看到,改進(jìn)后電樞模型所承受的等效應(yīng)力由 538 MPa 減小到 446 MPa,接觸應(yīng)力集中的情況得到改善。馮建源等[40]通過正交試驗(yàn)分析研究了樞軌間過盈裝配中電樞各結(jié)構(gòu)尺寸參數(shù)的匹配性,并對(duì)其影響程度進(jìn)行了排序,其結(jié)果顯示,影響程度依次為:翼根寬度>過盈量>尾翼長(zhǎng)度>翼尖寬度>肩部高度。

    • 同時(shí),接觸應(yīng)力集中會(huì)導(dǎo)致電樞在裝配后各區(qū)域載荷不一,出現(xiàn)某塊區(qū)域載荷過大或者過小的現(xiàn)象。載荷過小,樞軌載流摩擦副接觸應(yīng)力不足,發(fā)生失接觸或者接觸不良,引起電火花導(dǎo)致電弧磨損和轉(zhuǎn)捩燒蝕的產(chǎn)生。載荷過大,樞軌載流摩擦副表面接觸點(diǎn)所需承受的壓力增大,在高運(yùn)動(dòng)速度下剪切力增大,磨損率提高,摩擦熱和焦耳熱也隨之增加,導(dǎo)致材料熱熔化程度加深,造成電樞損傷情況嚴(yán)重。因此,在保證樞軌間基本接觸應(yīng)力的前提下,找到樞軌損傷率最低的最優(yōu)載荷值意義重大。 YASAR 等[41]的摩擦磨損試驗(yàn)結(jié)果表明,隨著載荷的增加,載流摩擦因數(shù)和磨損率呈現(xiàn)先降低后升高的相同變化趨勢(shì),30~50 MPa 的接觸應(yīng)力區(qū)間內(nèi)為輕度磨損;50~120 MPa 的接觸應(yīng)力區(qū)間內(nèi)為中度磨損;小于 30 MPa 和大于 120 MPa 的接觸應(yīng)力區(qū)間為重度磨損。趙曉非等[42]的研究證明了載流摩擦副存在一個(gè)最優(yōu)接觸應(yīng)力值,但其研究未能形成適用于不同載流條件下最優(yōu)接觸應(yīng)力值的系統(tǒng)理論和變化規(guī)律。

    • 圖11 樞軌間接觸應(yīng)力分布[39]

    • Fig.11 Contact stress distribution between armature rails[39]

    • 3.2 電流密度集中

    • 區(qū)別于傳統(tǒng)電接觸,電磁軌道發(fā)射裝置表現(xiàn)出工作時(shí)間短,電流振幅高,電流密度大等特點(diǎn),具有特殊的電流密度分布特性。這對(duì)電樞上電磁力分布和熱場(chǎng)的分布狀態(tài)都有一定的影響,是電樞設(shè)計(jì)不可忽視的一環(huán)。

    • 分布均勻的電流密度會(huì)使電樞在服役工作中表現(xiàn)出更好的力學(xué)性能和電接觸性能。然而在實(shí)際發(fā)射過程中,電樞上瞬態(tài)電流密度的分布往往是不均勻的,呈現(xiàn)出在局部區(qū)域上電流密度高度集中的態(tài)勢(shì),這會(huì)加劇電樞局部熱熔化和增加轉(zhuǎn)捩燒蝕發(fā)生的可能性。由于電樞發(fā)射時(shí)間較短(ms 級(jí)),目前對(duì)于電樞瞬態(tài)電流密度分布特性的研究主要采用數(shù)值分析和仿真模擬等手段,利用 COMSOL 建立非理想樞軌接觸界面磁擴(kuò)散模型和利用 ANSYS 建立樞軌接觸界面電流密度分布計(jì)算模型進(jìn)行計(jì)算分析。由此建立了一系列導(dǎo)致電樞上電流集中的物理效應(yīng),包括電流趨膚效應(yīng)(Current skin effect,CSE)、速度趨膚效應(yīng)(Velocity skin effect,VSE)以及臨近效應(yīng)(Proximity effect,PE)等[32,43-44],如圖12 所示。

    • 圖12 穩(wěn)態(tài)電流分布與三種電流集中的物理效應(yīng)

    • Fig.12 Physical effects of steady state current distribution with three current concentrations

    • XIA 等[45]研究表明電流趨膚效應(yīng)在電流熔體侵蝕(CME)中的影響不可忽略。鞏飛等[46]在考慮 VSE 的影響下,通過建立電流熔化波燒蝕的計(jì)算模型分析了電流熔化波的形成及傳播過程,在電樞表面得到了一個(gè) U 型燒蝕面。ZHOU 等[47]通過觀察發(fā)射過程中的磁熱耦合現(xiàn)象,分析了不同速度下 VSE 對(duì)電流密度分布的影響,研究結(jié)果顯示,隨著速度的增大,VSE 帶來的電流集中現(xiàn)象愈加明顯,但同時(shí)存在一定的速度闕值。LOU 等[48]指出臨近效應(yīng)加劇了軌道相鄰側(cè)電流密度的集中,提出適當(dāng)增加軌道間距等減小臨近效應(yīng)的方法,這對(duì)降低發(fā)射過程中的電樞損傷具有一定的幫助。曹昭君等[49]在結(jié)合趨膚效應(yīng)和臨近效應(yīng)等相關(guān)理論,模擬出靜態(tài)電樞電流密度分布特性,其結(jié)果表明電流密度主要集中在樞軌接觸界面頭部和電樞邊沿的中部,如圖13 所示[49]。

    • 圖13 電樞電流密度集中區(qū)域[49]

    • Fig.13 Concentration area of armature current density[49]

    • 3.3 熱量集中

    • 目前對(duì)樞軌載流摩擦副產(chǎn)熱大和溫升高帶來?yè)p傷失效問題的研究主要集中在電樞。這是由于在發(fā)射過程中,運(yùn)動(dòng)電樞與發(fā)射出口方向未通過的軌道部分沒有電流通過,相比于電樞溫度較低,在一定程度上能夠傳導(dǎo)部分熱量,起到散熱降溫作用。而電樞一直有大電流通過,且始終與軌道緊密接觸,幾乎不存在散熱功能,是系統(tǒng)的主要熱源之一。因此,電樞溫度能客觀直接地反映電磁軌道發(fā)射器內(nèi)溫度。由于樞軌間自身機(jī)械結(jié)構(gòu)和裝配的特殊性,在電磁軌道連續(xù)快速發(fā)射下電樞溫度隨時(shí)間和空間分布不均勻,使得熱量在一定時(shí)空內(nèi)聚集,進(jìn)而導(dǎo)致電樞損傷。

    • 針對(duì)電磁軌道發(fā)射系統(tǒng)膛內(nèi)熱效應(yīng)和發(fā)射過程中電樞溫度分布情況,研究者在結(jié)合樞軌載流摩擦副中非完全式接觸(Imperfect electric contacts, ImPEC)這一實(shí)際接觸模型的基礎(chǔ)上,以電流產(chǎn)熱和摩擦生熱作為樞軌系統(tǒng)中熱量的主要來源進(jìn)行探索。KIM 等[50]采用電磁有限元軟件 EWAP3D 對(duì)樞軌接觸面處電流產(chǎn)熱導(dǎo)致的溫度分布情況進(jìn)行了仿真模擬,進(jìn)而推導(dǎo)出熱量集中區(qū)域,其結(jié)果顯示,電樞最大溫度分布出現(xiàn)在 1 ms 時(shí)刻,而非 4 ms 出口時(shí)刻。同時(shí),接觸界面以下電樞內(nèi)部 0.5 mm 處溫升要大于電樞表面。原因在于軌道在發(fā)射過程中會(huì)起到冷卻降溫的作用。婁建勇等[51]基于 COMSOL 有限元仿真軟件建立了電磁發(fā)射裝置動(dòng)態(tài)計(jì)算模型,并以此模擬了電樞在發(fā)射過程中溫度分布的時(shí)空演變過程,如圖14 所示,可以看出,高溫區(qū)主要集中在電樞尾端,熱量集中導(dǎo)致電樞尾端率先熔化。王昊 [52] 針對(duì)樞軌間溫度場(chǎng)利用有限元軟件 COMSOL 建立了三維模型,研究了溫度分布時(shí)空特性,并探討了發(fā)射次數(shù)、峰值電流和材料電導(dǎo)率對(duì)熱量集中的影響。同時(shí),由于樞軌接觸特性,軌道溫度及其熱量會(huì)通過傳導(dǎo)間接影響電樞,導(dǎo)致電樞處熱量集中,溫度升高,其表面熱熔化程度也隨之加深。徐偉東等[53]研究發(fā)現(xiàn)軌道溫度升高會(huì)增加樞軌間接觸電阻,降低電樞初速,使得電樞在低速階段持續(xù)時(shí)間過長(zhǎng),加劇了電樞的載流摩擦磨損。

    • 圖14 發(fā)射過程中電樞溫度云圖[51]

    • Fig.14 Temperature cloud diagram of armature during launching process[51]

    • 4 電樞損傷防護(hù)優(yōu)化

    • 現(xiàn)如今,對(duì)于樞軌載流摩擦副時(shí)空演化過程的研究采用的是追溯性模式,即對(duì)發(fā)射后的電樞進(jìn)行靜態(tài)分析,結(jié)合發(fā)射動(dòng)力學(xué)模擬,推測(cè)實(shí)際發(fā)射過程中摩擦副的時(shí)空演化行為。

    • 針對(duì)接觸應(yīng)力集中、電流密度集中以及熱量集中等機(jī)制模擬與仿真模型,國(guó)內(nèi)外研究者分別從結(jié)構(gòu)防護(hù)、材料防護(hù)以及表面防護(hù)等方面進(jìn)行研究,通過優(yōu)化電樞自身結(jié)構(gòu)和改善材料以達(dá)到減輕甚至是避免發(fā)射過程中的電樞損傷,以提高樞軌系統(tǒng)的效率和使用壽命。

    • 4.1 結(jié)構(gòu)防護(hù)

    • 在結(jié)構(gòu)防護(hù)方面,通過設(shè)計(jì)電樞自身結(jié)構(gòu)參數(shù)及其裝配結(jié)構(gòu)剛度,獲得更加緊密的樞軌結(jié)構(gòu)和更加平整的接觸界面,以此減少樞軌接觸面的粗糙度和電樞尾翼部分的接觸應(yīng)力集中、電流集中以及熱量集中,從而降低摩擦和燒蝕等損傷的出現(xiàn)。

    • 研究者們大多以改善樞軌間的接觸特性和降低電樞發(fā)生轉(zhuǎn)捩燒蝕的可能性為出發(fā)點(diǎn),在縮比試驗(yàn)和有限元三維模擬仿真中,通過調(diào)整電樞形狀、長(zhǎng)度、尾翼傾角、頸部角度等參數(shù)以及設(shè)計(jì)電樞內(nèi)部結(jié)構(gòu),觀察電樞在極端條件下的服役效能,以此比較出各個(gè)參數(shù)在不同匹配機(jī)制下的最佳值。GUO 等[54]在電樞脈沖電流產(chǎn)生的沖力特性基礎(chǔ)上,對(duì)常見的 C 形電樞和新設(shè)計(jì)的凹形電樞分別進(jìn)行仿真和試驗(yàn)驗(yàn)證,對(duì)比了兩種電樞在相同電流服役環(huán)境下的力學(xué)性能,試驗(yàn)結(jié)果顯示新設(shè)計(jì)的凹形電樞具有更好的力學(xué)性能,損傷率低。隨后,以此結(jié)果探索電樞結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)考慮的方面,包括機(jī)械設(shè)計(jì)、電流和熱量分布、推動(dòng)有效負(fù)載的機(jī)械結(jié)構(gòu)優(yōu)化以及質(zhì)量最小化等。這對(duì)于后續(xù)研究電樞的穩(wěn)定性以及防止電樞在發(fā)射過程中發(fā)生轉(zhuǎn)捩和燒蝕具有一定的參考價(jià)值。

    • LIU 等[55]在分析電樞內(nèi)電流和電動(dòng)勢(shì)的分布后,通過電磁-結(jié)構(gòu)耦合的方法進(jìn)行一系列的仿真分析,得到了不同長(zhǎng)度電樞接觸參數(shù)與接觸效率之間的關(guān)系,并且提出了一種“反向加載”的方法設(shè)計(jì)電樞結(jié)構(gòu),如圖15 所示,將傳統(tǒng)的直線型電樞替換為彎曲型電樞,結(jié)果表明彎曲型電樞的接觸效率大大提高。CHEN 等[56]研究了矩形口徑軌道炮單片 C 型電樞的幾個(gè)關(guān)鍵參數(shù),在分析電樞質(zhì)量、電樞與軌道的電磁接觸力、電樞尾部機(jī)械強(qiáng)度和電感梯度的基礎(chǔ)上,提出了矩形口徑軌道炮單片 C 型電樞關(guān)鍵參數(shù)的關(guān)系,結(jié)果表明:尾翼傾角的增大可以減小電樞質(zhì)量,提高電樞尾部的機(jī)械強(qiáng)度,但會(huì)降低電樞與導(dǎo)軌之間的電磁接觸壓力。減小電樞高度與電樞寬度之比可以顯著提高電感梯度,進(jìn)而提高發(fā)射系統(tǒng)效率。

    • 圖15 “反向加載”電樞結(jié)構(gòu)示意圖[55]

    • Fig.15 Schematic diagram of the "reverse loaded" armature structure[55]

    • LIU 等[57]在樞軌過盈配合的計(jì)算結(jié)果上建立了多物理場(chǎng)耦合模型,以溫度和熱應(yīng)力等方面為出發(fā)點(diǎn),提出了一種兩端干涉的新型電樞結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),并通過試驗(yàn)比較,新型電樞能夠在發(fā)射過程中保持較好的穩(wěn)定性,大大降低了熱應(yīng)力對(duì)電樞發(fā)射性能的影響。TANG 等[58]通過仿真模擬,對(duì)凹弧表面 C 形電樞(ASCA)的表面弧的半徑(r)和中心角(θ) 進(jìn)行研究,得到了在不同電流密度下的最優(yōu)值。同時(shí),還有研究者以電樞內(nèi)部結(jié)構(gòu)為研究對(duì)象,設(shè)計(jì)出在電樞內(nèi)部放置一個(gè)潤(rùn)滑物儲(chǔ)蓄池,通過慣性作用,在發(fā)射過程中不斷將潤(rùn)滑物質(zhì)釋放到樞軌接觸位置,以確保在每一次發(fā)射以及在發(fā)射全過程位置上均存在此潤(rùn)滑物質(zhì),其發(fā)射前與發(fā)射中狀態(tài)如圖16 所示[59]。

    • 圖16 潤(rùn)滑物儲(chǔ)蓄池電樞[59]

    • Fig.16 Lubricant savings pool armature[59]

    • 4.2 材料防護(hù)

    • 在材料防護(hù)方面,研究者以電樞所需優(yōu)異性能為出發(fā)點(diǎn),包括高導(dǎo)電性、高硬度、高導(dǎo)熱性、高耐磨性、耐高溫、抗電弧燒蝕性和質(zhì)量低等,聚焦于金屬材料,通過對(duì)比研究各種電樞材料在電磁交互復(fù)雜環(huán)境下的性能優(yōu)劣,同時(shí)考慮與軌道材料間的匹配性,以此減少在發(fā)射過程中樞軌摩擦副的損傷。

    • ALTENHOF 等[60]對(duì)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)相同的鋁、鎂電樞進(jìn)行了沖擊試驗(yàn)和耐撞性評(píng)價(jià),結(jié)果表明:在峰值沖擊載荷近似相等的情況下,鋁電樞比鎂電樞具有更高的能量吸收率。HINAJE 等[61]通過比較鋁、銅、鎢、銀、鎳等 5 種材料的電樞,得出了電樞材料必須具有極高電導(dǎo)率和低密度的結(jié)論。付磊等[62]利用同步感應(yīng)電磁推進(jìn)系統(tǒng),使用 MagNet 有限元軟件建立了單級(jí)同步感應(yīng)電磁推進(jìn)裝置的仿真模型,并對(duì)比分析了鋁、銅、鎢、銀、鎳等 5 種材料電樞的基本物理屬性,如表1 所示[62]??梢钥闯觯X的電阻率為 2.655×10−8 Ω·m,密度為 2 700 kg·m−3,綜合考慮高導(dǎo)電率和低密度兩種因素下,鋁質(zhì)材料為最適宜的選擇。因此,對(duì)鋁進(jìn)行合金化以加強(qiáng)其強(qiáng)度、硬度、抗燒蝕以及導(dǎo)電率等各方面的性能,這對(duì)于改善電樞效能具有重要意義。

    • 表1 電樞制造材料[62]

    •  

      Table1 Armature manufacturing materials[62]

    • 鋁合金長(zhǎng)期以來在各大領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,特別是飛機(jī)和航空航天,鋁合金都占據(jù)著重要的地位。然而,電磁軌道發(fā)射過程中的極端服役環(huán)境對(duì)鋁合金的高強(qiáng)度、高導(dǎo)電性、高硬度以及高熔點(diǎn)提出了更高的要求。目前,大多數(shù)方法是通過在一定程度上犧牲電導(dǎo)率來提高力學(xué)性能,如合金化法和復(fù)合材料法。合金化方法是通過固溶強(qiáng)化、析出強(qiáng)化、細(xì)晶強(qiáng)化、變形強(qiáng)化等手段對(duì)基體進(jìn)行強(qiáng)化。在高強(qiáng)高導(dǎo)合金的實(shí)際生產(chǎn)和應(yīng)用中,采用單一的強(qiáng)化方法往往是非常有限的,多種強(qiáng)化方式相結(jié)合是主流趨勢(shì)。復(fù)合方法是通過添加第二相顆粒、晶須以及纖維來增強(qiáng)鋁基體。高強(qiáng)度鋁合金是以 Al-Zn-Mg-Cu 系為主的合金。自 20 世紀(jì) 30 年代以來,全球許多國(guó)家對(duì) Al-Zn-Mg-Cu 系合金進(jìn)行了大量的研究。發(fā)展至 20 世紀(jì) 80 年代,隨著快速凝固/ 粉末冶金(RS/PM)工藝的愈發(fā)成熟,成功制備出抗拉強(qiáng)度達(dá) 700 MPa 以上的 7 系超高強(qiáng)合金,這將 Al-Zn-Mg-Cu 系合金推向了一個(gè)更高的水平[63-64]。至今,各國(guó)開發(fā)出的 Al-Zn-Mg-Cu 系高強(qiáng)合金牌號(hào)達(dá)幾十種,部分合金成分如表2 所示[63]。其主要的顆粒相為 η-MgZn2、T-Al2Zn3Mg2。LIN 等[65]通過 Johnson-cook 材料模型,在多物理場(chǎng)耦合模型中比較了 7075 鋁合金和 6061 鋁合金在不同電流下的失效時(shí)間,如圖17 所示,可以看出,7075 鋁合金具有更高的載流能力,表明其具有更高的屈服強(qiáng)度。同時(shí)相關(guān)試驗(yàn)指出,6 系鋁合金具有更高的韌性,在發(fā)射出口處得到的電樞不破碎,結(jié)構(gòu)完整性的保持效果更佳。在后續(xù)電樞材料的研究中,針對(duì) 6 系和 7 系鋁合金的選擇上還有待進(jìn)一步研究。

    • 表2 Al-Zn-Mg-Cu 系高強(qiáng)合金成分表(質(zhì)量分?jǐn)?shù)/%)[63]

    •  

      Table2 Composition table of Al-Zn-Mg-Cu high-strength alloys (wt.%) [63]

    • 通過對(duì) Al-Zn-Mg-Cu 系鋁合金進(jìn)行合金化以達(dá)到增強(qiáng)其各方面物理性能的目的,這對(duì)于保障電磁軌道發(fā)射過程的完整性和可靠性起到了極大的積極作用。值得注意的是,由于鋁自身低熔點(diǎn)和高化學(xué)反應(yīng)活性的屬性,在發(fā)射過程中電樞不可避免地會(huì)發(fā)生熔化摩擦磨損,進(jìn)而使得樞軌間產(chǎn)生材料轉(zhuǎn)移,在軌道表面形成鋁熔凝沉積層[66-67],即軌道黏鋁問題,如圖18 所示。一方面,電樞在發(fā)射過程中,其表層材料發(fā)生熔化,于銅軌道表面形成液態(tài)潤(rùn)滑層。這會(huì)使得樞軌接觸由完全的“固-固”接觸在短時(shí)間內(nèi)轉(zhuǎn)換為“固-液-固”接觸。該接觸方式在一定程度上能降低電樞與軌道間的粗糙度,有利于減少樞軌系統(tǒng)運(yùn)動(dòng)過程中的摩擦損傷;另一方面,在軌道冷卻的作用下,電樞熔化物會(huì)與軌道發(fā)生機(jī)械結(jié)合和化學(xué)結(jié)合,在軌道表面出現(xiàn)機(jī)械黏著物和化合物,例如鋁合金、Al2O3 等,使得軌道表面產(chǎn)生大量的微凸起硬質(zhì)顆粒,惡化樞軌接觸效果導(dǎo)致磨粒磨損增加,降低了樞軌發(fā)射系統(tǒng)的精確性和使用壽命。同時(shí),這也會(huì)影響脈沖輸出電流的持續(xù)性和穩(wěn)定性,導(dǎo)致電樞的出口速度不能達(dá)到預(yù)期效果,此影響會(huì)隨著發(fā)射次數(shù)增加而導(dǎo)致的沉積層累積厚度增加而越來越顯著。因此,軌道表面鋁熔凝沉積層對(duì)樞軌摩擦副的影響具有雙面性,二者存在競(jìng)爭(zhēng)關(guān)系。在后續(xù)電樞材料的選擇中,如何平衡二者的影響效果,減小樞軌接觸面間隙,優(yōu)化接觸狀態(tài)以提高電磁軌道發(fā)射系統(tǒng)的效率也是研究重點(diǎn)之一。

    • 圖17 電樞在不同電流下的失效時(shí)間[65]

    • Fig.17 Failure time of armature at different currents[65]

    • 圖18 軌道表面鋁熔凝沉積層

    • Fig.18 Aluminum fusion deposits on the surface of the rail

    • 4.3 表面防護(hù)

    • 在表面防護(hù)方面,不同研究者在明晰電樞表面性質(zhì)的基礎(chǔ)上,根據(jù)所需改善電樞的不同物理性能,采取不同的表面強(qiáng)化技術(shù)制備了貼合度較高的不同材質(zhì)表面涂層。DROBYSHEVSKI 等[68]在樞軌接觸界面注入一層液體,在考慮了速度趨膚效應(yīng)、能量耗散以及熱傳導(dǎo)等因素,研究了液態(tài)涂層對(duì)樞軌間滑動(dòng)電接觸性能的影響,結(jié)果表明:液態(tài)涂層可以顯著抑制速度趨膚效應(yīng),減少接觸界面的焦耳熱和摩擦熱,但對(duì)于如何保持液態(tài)涂層的完整性和防止流失方面的研究不夠深入。

    • 同時(shí),在表面涂層的設(shè)計(jì)過程中,還應(yīng)避免涂層材料在發(fā)射過程中因摩擦和熔化而丟失過快造成樞軌間的接觸不良。GHASSENMI 等[69]采用了一種新型的電樞設(shè)計(jì),將具有良好導(dǎo)電性的銦液膜添加到電樞表面,研究了該涂層對(duì)樞軌界面間熱感應(yīng)及磁感應(yīng)分布的影響,結(jié)果表明:使用液態(tài)銦涂層不僅提高了樞軌界面間的導(dǎo)電性,還減少了摩擦并遲緩了電樞的熔化。LI 等[70]從材料熔點(diǎn)和硬度的角度出發(fā),提出鎢可以作為電樞表面的涂層材料,設(shè)計(jì)了涂層的形狀和厚度,通過計(jì)算涂層與基體之間的剪切力,確定最佳涂層成形工藝,并分析了涂層對(duì)電接觸性能、系統(tǒng)效率和彈丸刨削閾值速度的影響,結(jié)果表明:涂層與基體之間的最大剪切力在 171 MPa 以上,激光熔覆技術(shù)可以滿足工藝要求,涂層處理后,樞軌間的接觸電阻增加了 6%。

    • 陳建偉等[71]利用錫合金的高導(dǎo)熱性、低膨脹系數(shù)和高導(dǎo)電性等優(yōu)點(diǎn),制備了錫合金導(dǎo)電鍍層,并計(jì)算了鍍層電樞/軌道的接觸電阻,分析了錫合金在電流作用下的特性以及對(duì)電樞運(yùn)動(dòng)特性的影響,結(jié)果表明:錫合金鍍層電樞較普通 U 型電樞的炮口速度提高大約 15%。杜傳通等[72]制備了一層石墨烯涂層在電樞表面,并進(jìn)行了相關(guān)理論分析和仿真研究,結(jié)果表明:石墨烯涂層不僅能改善樞軌界面間的電接觸狀態(tài),在提高電樞速度、減少界面間熱量產(chǎn)生等方面具有一定的積極影響。如圖19 所示是普通電樞與添加石墨烯涂層后電樞的發(fā)射試驗(yàn)對(duì)比,可以看出石墨烯涂層具有抗電弧燒蝕和潤(rùn)滑的作用。 LIU 等[73]從復(fù)合涂層材料的角度出發(fā),以 Cu 作為硬底材、Sn-GE 作為軟導(dǎo)電潤(rùn)滑膜,在電樞用鋁合金表面制備了一層復(fù)合涂層,并通過載流試驗(yàn)檢測(cè)其各項(xiàng)性能,結(jié)果表明:該復(fù)合涂層在降低摩擦因數(shù)和減少電弧燒蝕等方面均有一定幫助。

    • 圖19 電樞發(fā)射試驗(yàn)前后對(duì)比[71]

    • Fig.19 Before and after armature emission experiment[71]

    • 綜合以上研究者的研究成果,可以看出,滿足樞軌載流摩擦副材料應(yīng)用化需求的電樞表面涂層應(yīng)具有以下性能:

    • (1)具有良好的導(dǎo)電性和較高的熔點(diǎn),以減少接觸界面產(chǎn)生的焦耳熱導(dǎo)致的電樞熔化。

    • (2)具有較高的硬度,以減少電樞表面的機(jī)械磨損。

    • (3)在設(shè)計(jì)表面涂層的形狀和制備方法等因素時(shí),應(yīng)綜合考慮磨損情況以及樞軌間的抗剪切強(qiáng)度,防止在發(fā)射過程中涂層因摩擦等不利因素而導(dǎo)致脫落。

    • (4)涂層材料與電樞表面之間應(yīng)具有較大的親和力。

    • (5)對(duì)于復(fù)合涂層材料,應(yīng)從“硬底材-軟導(dǎo)電潤(rùn)滑膜”結(jié)合模式綜合考慮,以此保證涂層兼具硬度高、潤(rùn)滑性、高導(dǎo)電等性能。

    • 對(duì)于表面涂層的制備,現(xiàn)階段常用的方法為:電鍍、化學(xué)鍍、真空鍍、粉末噴涂、磁控濺射、激光熔覆等。其中,激光熔覆技術(shù)冷卻速度快、涂層稀釋率低、熱輸入和畸變較小、熔覆層的厚度范圍大,是一種應(yīng)用前景廣闊的表面處理技術(shù)。目前,相關(guān)鋁合金電樞涂層的制備工藝、應(yīng)用條件及微觀機(jī)理的研究不夠成熟,特別是在發(fā)射過程的極端工況服役環(huán)境下,存在各種物理量耦合場(chǎng),表面涂層的各項(xiàng)抗沖擊性能和其他物理性能能否達(dá)標(biāo)的相關(guān)檢測(cè)試驗(yàn)仍然缺乏系統(tǒng)性的指導(dǎo)。

    • 5 結(jié)論與展望

    • 從國(guó)內(nèi)外研究者對(duì)電磁軌道發(fā)射用電樞損傷的研究進(jìn)展可以發(fā)現(xiàn),針對(duì)電樞載流摩擦磨損、熱熔化以及轉(zhuǎn)捩燒蝕等典型損傷,已構(gòu)建相應(yīng)的規(guī)律體系和理論分析體系,并結(jié)合分析模型做出了對(duì)應(yīng)的防護(hù)優(yōu)化,取得了較好的試驗(yàn)和仿真效果。但對(duì)于電樞損傷的形貌演變規(guī)律、仿真復(fù)現(xiàn)手段以及與軌道損傷特征的對(duì)應(yīng)關(guān)系等的研究還不夠深入。主要原因如下:

    • (1)受限于當(dāng)前的技術(shù)手段,對(duì)電樞和軌道的損傷探究都是基于發(fā)射后的結(jié)果進(jìn)行。而電樞損傷是單次發(fā)射后產(chǎn)生的結(jié)果,軌道損傷是多次發(fā)射后累積產(chǎn)生的結(jié)果,這導(dǎo)致電樞與軌道的分析對(duì)象不匹配,所得到的表面損傷機(jī)制不具有統(tǒng)一性和相關(guān)性。

    • (2)電磁軌道發(fā)射過程中,樞軌接觸界面各項(xiàng)性能參數(shù)是否變化以及變化趨勢(shì)的數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯現(xiàn)手段尚不完備,這導(dǎo)致樞軌載流摩擦副的損傷對(duì)發(fā)射性能的影響難以量化。

    • (3)電磁軌道發(fā)射裝置處于電-磁-熱-力極端工況下,電樞與軌道間的材料轉(zhuǎn)移不可避免,轉(zhuǎn)移過程受到樞軌載流摩擦副損傷的嚴(yán)重影響。而針對(duì)損傷與樞軌間結(jié)構(gòu)變化目前沒有準(zhǔn)確高效的三維重構(gòu)模型以說明兩者間本征關(guān)系。

    • 對(duì)于上述難點(diǎn)和問題,依據(jù)電磁軌道發(fā)射相關(guān)技術(shù)要求,未來電樞損傷的研究應(yīng)著力于以下幾個(gè)方面:

    • (1)理清電磁發(fā)射極端工況下各物理量場(chǎng)的深度耦合關(guān)系,追溯發(fā)射過程中電樞形貌演變規(guī)律。

    • (2)明晰電磁軌道發(fā)射行為的關(guān)鍵物理量及其影響機(jī)制,包括接觸電阻、摩擦因數(shù)等,探索發(fā)射過程中樞軌間接觸狀態(tài)的變化。

    • (3)構(gòu)建電磁軌道發(fā)射苛刻工況三維分析模型,研究仿真復(fù)現(xiàn)技術(shù),探明處于電-磁-熱-力多場(chǎng)耦合下樞軌材料的物性演化。

    • (4)現(xiàn)有防護(hù)優(yōu)化手段尚不能滿足極端服役環(huán)境下的結(jié)構(gòu)和性能保持需求。開展新型樞軌材料及其結(jié)構(gòu)的研發(fā)是未來的研究重點(diǎn)之一。

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