拉曼光譜技術(shù)

1. 拉曼點(diǎn)掃面積有多大？

顯微鏡物鏡出口的激光光斑的直徑約1-2微米。拉曼成像的區(qū)域大小更多取決于自動(dòng)平臺(tái)的移動(dòng)范圍，尺度和自動(dòng)平臺(tái)相關(guān)，有75X50mm，100X80mm，300X300mm等選擇。

2. 表面增強(qiáng)拉曼能否表征金膜表面修飾的單分子層自組裝膜的形態(tài)？如膜的缺陷

可以，前提是你的單分子膜有比較好的拉曼信號(hào)，拉曼峰的歸屬清晰。可以通過拉曼信號(hào)推測(cè)單分子膜的面密度，甚至是單層膜分子在金屬表面的俯仰和狀態(tài)，通過拉曼成像來表征膜的缺陷.

3. 溫度對(duì)拉曼光譜儀測(cè)量的影響？改變光譜儀房間溫度對(duì)測(cè)量影響大嗎？

通常情況下，環(huán)境溫度對(duì)拉曼測(cè)試有影響。相對(duì)于溫度高低，維持溫度穩(wěn)定最為重要。通常顯微拉曼光譜儀都是放在空調(diào)房，避開空調(diào)出風(fēng)口。

4. 化學(xué)品的結(jié)構(gòu)，晶型如何由拉曼光譜得到？

拉曼光譜可以通過指紋峰鑒別化學(xué)品的晶型結(jié)構(gòu)，在藥物領(lǐng)域應(yīng)用較多。例如可以通過拉曼在線檢測(cè)咖啡因的晶型的穩(wěn)定性。

5. 拉曼光譜測(cè)量材料施加應(yīng)力后變化，利用PL做mapping觀察發(fā)光峰位變化不明顯，可能測(cè)拉曼峰會(huì)有更明顯變化嗎？

可能，相對(duì)拉曼信號(hào)，PL峰本身比較寬，應(yīng)力變化引發(fā)的光譜變化比較細(xì)微，PL的變化比較難發(fā)現(xiàn)。相對(duì)來說，拉曼峰的峰寬比較窄，應(yīng)力變化引發(fā)的材料拉曼特征峰的變化更容易發(fā)現(xiàn)。以單晶硅為例，施加壓力后，其位于520 cm-1的峰位會(huì)有幾個(gè)波數(shù)的移動(dòng)。

6. SPR技術(shù)固定樣品主要是利用什么表面修飾技術(shù)？

主要是表面化學(xué)，通過雙官能團(tuán)分子固定配體。雙官能團(tuán)分子的一端固定在芯片的表面，另一端和被固定的分子共價(jià)連接。除了通過共價(jià)偶聯(lián)，還有的是利用物理的吸附。

熒光光譜技術(shù)

1. 瞬態(tài)光譜測(cè)試壽命的時(shí)候，如何避免誤差，得到真實(shí)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果，選擇狹縫和激發(fā)功率有什么經(jīng)驗(yàn)和技巧？另外測(cè)固體和液體壽命時(shí)候如何保持氮?dú)夥諊?/span>

HORIBA熒光壽命測(cè)試軟件會(huì)在壽命測(cè)試結(jié)果中自動(dòng)給出S.Dev，3倍的S.Dev是壽命結(jié)果的誤差；在測(cè)試過程中保持a＜2%，減少堆積效應(yīng)帶來的測(cè)試結(jié)果偏短的誤差；樣品倉可以選配氣氛通入孔，這在HORIBA熒光壽命系統(tǒng)屬于標(biāo)配附件，在樣品倉后側(cè)。

2. 近紅外發(fā)光物質(zhì)的熒光測(cè)試結(jié)果不理想，通常強(qiáng)度弱，干擾多，峰形差，尤其測(cè)量子效率經(jīng)常無法測(cè)出（用積分球），怎么在操作技巧或儀器設(shè)備上改進(jìn)？

這與使用的儀器和樣品相關(guān)，例如NIR R5509 PMT檢測(cè)器靈敏度低，噪音大，需要兩小時(shí)的液氮續(xù)留降溫，如果溫度沒有達(dá)到預(yù)計(jì)的范圍，將會(huì)導(dǎo)致噪音高，無樣品信號(hào)或信號(hào)較差的結(jié)果。具體的優(yōu)化方法，還需要查看操作參數(shù)，還請(qǐng)老師在與我們聯(lián)系。如果是HORIBA熒光光譜儀，我們有專業(yè)的熒光應(yīng)用工程師給您直接應(yīng)用支持。

3. 請(qǐng)簡(jiǎn)單介紹同步熒光法及其應(yīng)用，謝謝。

與常用的熒光測(cè)定方法最大的區(qū)別是激發(fā)和發(fā)射單色儀同時(shí)掃描。獲得熒光強(qiáng)度信號(hào)與對(duì)應(yīng)的發(fā)射（或激法）波長的變化曲線，稱為同步熒光光譜。譜帶明顯變窄、發(fā)射光譜簡(jiǎn)化、譜圖范圍縮小；常見在多組分分析（如多環(huán)芳烴、血清、藥物、食品、氨基酸等），用于定量、定性分析。

4. 測(cè)量熒光量子產(chǎn)率時(shí)，會(huì)出現(xiàn)多種數(shù)據(jù)，S1c, S1c/R1c,如何選擇數(shù)據(jù)進(jìn)行積分這些數(shù)據(jù)是不是能真實(shí)反應(yīng)光子數(shù)目是否需要波長校正。

S1c與S1c/R1c的區(qū)別是前者是發(fā)射端校正后的數(shù)據(jù)，后者是同時(shí)包含發(fā)射端校正和光源抖動(dòng)的實(shí)時(shí)校正，通常情況下，請(qǐng)只選擇S1c輸出，如果光源不穩(wěn)定或者光源抖動(dòng)對(duì)測(cè)試產(chǎn)生影響，請(qǐng)選擇S1c/R1c,兩者結(jié)果無差別。

5. 用TCSPC測(cè)量熒光壽命時(shí)，熒光壽命怎么計(jì)算？

壽命衰減曲線獲得后，需要通過軟件擬合，獲得組分壽命值；HORIBA熒光壽命測(cè)試系統(tǒng)包含包含壽命專業(yè)級(jí)軟件，開放全部的壽命擬合功能，如：1~5指數(shù)壽命擬合、Global和Batch擬合等。

AFM-Raman 聯(lián)用技術(shù)

1. 什么是近場(chǎng)光學(xué)？

物體表面的場(chǎng)分布可以劃分為兩個(gè)區(qū)域，距離物體表面僅僅幾個(gè)K的區(qū)域稱為近場(chǎng)，近場(chǎng)光學(xué)則是研究距離物體表面一個(gè)波長范圍的光學(xué)現(xiàn)象；從近場(chǎng)區(qū)域外至無窮遠(yuǎn)稱為遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)域，通常觀察工具如顯微鏡等各種光學(xué)鏡頭均處于遠(yuǎn)場(chǎng)范圍。近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡突破常規(guī)光學(xué)顯微鏡受到的衍射極限，在超高光譜分辨率下進(jìn)行納米尺度的光學(xué)成像和光譜研究，在生命科學(xué)、單分子光譜、量子器件發(fā)光機(jī)制等領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。

顆粒表征

1. 顆粒尺寸激光散射法具體是怎樣的，可以舉例說明嗎？

激光照射到顆粒上會(huì)發(fā)生光散射，散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒尺寸有關(guān)。大顆粒的散射光較強(qiáng)，但散射角度較窄；小顆粒的散射光強(qiáng)度較弱，但角度較寬。將不同角度檢測(cè)器收集到的光信號(hào)，根據(jù)數(shù)學(xué)模型轉(zhuǎn)換成顆粒尺寸。

2. 請(qǐng)問DSL測(cè)定納米粒徑時(shí)，溶液的溶劑，濃度，溫度等會(huì)如何影響測(cè)定結(jié)果？

溶劑中的離子會(huì)影響顆粒表面的電荷，從而影響其團(tuán)聚情況；濃度越高，單位體積內(nèi)的顆粒數(shù)越大，會(huì)影響顆粒自身的布朗運(yùn)動(dòng)，也容易造成多重散射；溫度越高，顆粒的運(yùn)動(dòng)越高，測(cè)得的結(jié)果會(huì)偏小。

碳硫氧氮?dú)浞治黾夹g(shù)

1. 用熱導(dǎo)測(cè)CSONH，是否使用不同的熱敏電阻？C H4能測(cè)嗎？

首先，熱導(dǎo)法通常用于檢測(cè)N2、H2等這類的雙原子分子的氣體。C、S、O加熱后以CO、CO2、SO2的形式釋放，所以不能用熱導(dǎo)法檢測(cè)，一般用非分散紅外吸收的方法檢測(cè)。其次，涉及熱導(dǎo)檢測(cè)器的敏感元件熱敏電阻，在材料和結(jié)構(gòu)上不同的廠家會(huì)有所不同，但同一廠家的熱導(dǎo)檢測(cè)器一般可以用于不同氣體的檢測(cè)，但針對(duì)不同氣體檢測(cè)器的內(nèi)部參數(shù)設(shè)置不同。再次，CH4不能用熱導(dǎo)的方法檢測(cè)，但可以用非分散紅外吸收法檢測(cè)。

GDS輝光放電光譜技術(shù)

1. 陰極熒光能測(cè)到1600nm嗎？

可以，儀器可測(cè)試的氛圍與選配的探測(cè)器，光柵的測(cè)試范圍相關(guān)2. 對(duì)于鋰電負(fù)極嵌鋰，鋰嵌入負(fù)極有一個(gè)過程，用輝光放電看負(fù)極縱向的鋰濃度分布的效果會(huì)理想嗎？

輝光放電在分析鋰電池負(fù)極時(shí)是將充放電之后的電池拆開了測(cè)試，也就是樣品中的鋰元素濃度已經(jīng)固定橢圓偏振光譜技術(shù)1. 橢便儀測(cè)量粗糙度，空隙率，請(qǐng)簡(jiǎn)單介紹。

橢偏儀通過有效介質(zhì)模型分析表面的粗糙程度，一般設(shè)計(jì)空氣含量50%，上層薄膜含量50%為粗糙層；材料的孔隙率分析與之類似，材料的折射率受到孔隙的“稀釋”，因此孔隙的比率，與實(shí)際材料的折射率/無孔隙材料折射率的比值相關(guān)。

2. 橢偏儀測(cè)帶隙寬度，是否應(yīng)該先測(cè)出光學(xué)常數(shù)。與uv--vis吸收有什么區(qū)別？

橢偏儀分析材料帶隙需要先測(cè)出光學(xué)常數(shù)。與UV-VIS分光光度計(jì)類似，后者測(cè)試的是alpha吸收系數(shù)，與消光系數(shù)有如下關(guān)系：alpha=4pk/l

3. 橢偏能對(duì)這種具有一定流動(dòng)性的乳化膜厚度進(jìn)行評(píng)估？

橢偏可以對(duì)液體或固體薄膜進(jìn)行測(cè)試，但乳化膜是否透明半透明，以及起伏狀態(tài)如何將會(huì)決定是否能夠用橢偏測(cè)試

4. 在雙層膜的情況下，進(jìn)行變溫測(cè)試是否有可能得出尚未清楚的雙層擴(kuò)散的具體情況。是否和所謂的分辨率有關(guān)系，因?yàn)閮蓪幽ざ际怯袡C(jī)膜，n,k值比較接近。

橢偏讀取的是界面的偏振光改變，雙層擴(kuò)散過程涉及到的內(nèi)部變化比較復(fù)雜，可能形成兩種成分混合的界面層，此時(shí)橢偏儀可通過建立模型分析各層厚度；另一種可能，擴(kuò)散層與雙層折射率非常接近，沒有清晰界面，此時(shí)橢偏儀可讀出橢偏角發(fā)生改變，但難以通過建立模型分析各層厚度。

5. 如何通過橢偏儀測(cè)量分子取向的問題橢偏可用于液晶等光軸大分子的取向檢測(cè)，與檢偏工作原理類似，橢偏儀兩臂水平，液晶薄膜豎直放置于兩臂中間，轉(zhuǎn)動(dòng)液晶薄膜樣品，當(dāng)信號(hào)最弱時(shí)，液晶方向與橢偏儀起偏器方向相反，信號(hào)最強(qiáng)時(shí)，二者方向一致。