1、引言
涂料在噴涂的過(guò)程中,會(huì)不可避免地出現(xiàn)漏涂、少涂、堆積、流漬、氣泡等涂層質(zhì)量問題。此外,暴露在戶外的設(shè)備受環(huán)境影響也會(huì)出現(xiàn)涂層缺陷等質(zhì)量問題。目前,國(guó)內(nèi)針對(duì)非金屬基體表面涂層缺陷、流漬等質(zhì)量問題的檢測(cè)方法研究相當(dāng)欠缺。本文通過(guò)分析現(xiàn)階段檢測(cè)方法得到啟發(fā),研究出一種非金屬基體表面涂層質(zhì)量的新型檢測(cè)方法,能有效地完成涂層厚度及均勻度的無(wú)損檢測(cè),具有檢測(cè)周期短、檢測(cè)裝置便攜、檢測(cè)結(jié)果可靠性高等諸多優(yōu)點(diǎn)。這種方法對(duì)各個(gè)領(lǐng)域檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展有促進(jìn)作用。
近年來(lái),涂層質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用于航空航天、鐵路運(yùn)輸、生產(chǎn)制造、化工制藥等許多領(lǐng)域,保障機(jī)械生產(chǎn)制造設(shè)備的安全運(yùn)行和工作人員的人身安全。國(guó)內(nèi)外涂層質(zhì)量無(wú)損檢測(cè)方法都是應(yīng)用于金屬基體表面的涂層質(zhì)量檢測(cè),如鋼表面的油漆涂層、銅表面的陶瓷涂層、鐵表面的鍍鋅涂層等。在生產(chǎn)實(shí)際中普遍采用的涂層質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)可以分為:超聲波檢測(cè)、射線檢測(cè)、渦流檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)等等。近幾年來(lái)也不斷研究出新的檢測(cè)技術(shù),如微波技術(shù)、紅外技術(shù)等。這些技術(shù)均屬于無(wú)損檢測(cè)的范疇,并在金屬基體表面的涂層質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
而在非金屬基體表面涂層質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)方面,目前多采用探針法這類對(duì)被測(cè)涂層有損傷的檢測(cè)方法。這類方法不僅破壞了涂層的完整性,而且降低了被測(cè)物體的性能,給設(shè)備的正常運(yùn)行帶來(lái)了隱患。因此,現(xiàn)階段在非金屬基體表面涂層質(zhì)量檢測(cè)方法急需進(jìn)一步的研究和改進(jìn)。本文采用的新型檢測(cè)方法(敲擊測(cè)聲法)應(yīng)用于非金屬基體表面涂層質(zhì)量的檢測(cè)工作,可以在不損傷被測(cè)涂層、保障被測(cè)物體性能的前提下,實(shí)現(xiàn)涂層質(zhì)量的無(wú)損檢測(cè),對(duì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)在非金屬基體表面涂層質(zhì)量檢測(cè)的發(fā)展具有重要意義。并且,敲擊測(cè)聲法在實(shí)際檢測(cè)工作中可以減少檢測(cè)工序,降低檢測(cè)人員的工作強(qiáng)度,能安全可靠的應(yīng)用于涂層質(zhì)量檢測(cè)工作。
2、敲擊測(cè)聲法檢測(cè)原理
對(duì)于基體與涂層有較明顯硬度差別的工況,涂層厚度不同,敲擊后發(fā)出的聲音強(qiáng)度不同,對(duì)其檢測(cè)到的聲強(qiáng)峰值(即分貝數(shù)值)也會(huì)不同。由此原理可以發(fā)現(xiàn),在相同的環(huán)境條件下,通過(guò)使用相同的力度敲擊涂層表面,檢測(cè)最終返回的聲強(qiáng)峰值,判斷涂層厚度,再對(duì)涂層表面的不同位置進(jìn)行檢測(cè),將各處所檢測(cè)的聲強(qiáng)峰值進(jìn)行比較,可對(duì)均勻度等質(zhì)量指標(biāo)進(jìn)行判別。
基于上述原理,本文研究一種新型的涂層質(zhì)量檢測(cè)方法——敲擊測(cè)聲法,其檢測(cè)流程為:用相同力度敲擊被測(cè)涂層表面,將產(chǎn)生的聲音收集并傳播到聲音收集裝置中,并通過(guò)裝置中連接的聲音強(qiáng)度檢測(cè)裝置,檢測(cè)返回聲強(qiáng)峰值并顯示分貝數(shù)值。因此,可以通過(guò)相同力度敲擊涂層表面的不同位置,測(cè)得返回的聲強(qiáng)峰值,比較該涂層表面的厚度及均勻度等質(zhì)量指標(biāo)。
本文的檢測(cè)裝置采用單片機(jī)控制。單片機(jī)具有集成度高、體積小、可靠性高、控制能力強(qiáng)等特點(diǎn)。
與PLC控制相比,單片機(jī)控制的工作電壓與工作電流較低,并且經(jīng)濟(jì)實(shí)惠,成本相對(duì)較低,便于生產(chǎn)便捷式的產(chǎn)品,適用于本文所采用的檢測(cè)裝置。
3、敲擊測(cè)聲法檢測(cè)裝置設(shè)計(jì)
3.1檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
敲擊測(cè)聲法檢測(cè)裝置如圖1所示,主要包括隔音墊1、聲音收集箱2、電磁敲擊裝置7、單片機(jī)控制模塊8以及與聲音收集箱連接的聲音強(qiáng)度檢測(cè)模塊6。
隔音墊1用于隔離檢測(cè)環(huán)境與外界環(huán)境,防止外界噪音對(duì)檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生影響。
聲音收集箱2包括電磁敲擊裝置安裝座3、底座4與前蓋5,用于固定安裝電磁敲擊裝置7,將敲擊產(chǎn)生的聲音收集并傳播至聲音強(qiáng)度檢測(cè)模塊6中。
單片機(jī)控制模塊8用于控制電磁推桿9的敲擊動(dòng)作,使電磁推桿9在每一次檢測(cè)過(guò)程中都是在相同的初始條件下完成敲擊。
電磁敲擊裝置7包括電磁推桿9、外殼10、彈簧與后座12。電磁推桿9用于完成檢測(cè)過(guò)程中的敲擊動(dòng)作,并由彈簧11進(jìn)行復(fù)位,使電磁推桿9回到初始位置。
聲音強(qiáng)度檢測(cè)模塊6包括傳聲器、前置放大器、衰減器、濾波器、檢波器和顯示器。
采用上述裝置檢測(cè)涂層質(zhì)量的工作流程如圖2所示:?jiǎn)纹瑱C(jī)控制電磁敲擊裝置7工作,電磁推桿敲擊非金屬涂層后,將產(chǎn)生的聲音通過(guò)隔音墊1傳至聲音收集箱2中,由傳聲器將聲音轉(zhuǎn)換成電信號(hào),再由前置放大器變換阻抗,使傳聲器與衰減器匹配。放大器將輸出信號(hào)加到計(jì)權(quán)網(wǎng)絡(luò),對(duì)信號(hào)進(jìn)行頻率計(jì)權(quán)(或外接濾波器),然后再經(jīng)衰減器及放大器將信號(hào)放大到一定的幅值,在有效值檢波器(或外接電平記錄儀)的顯示器上顯示具體分貝數(shù)值,根據(jù)不同位置測(cè)得的分貝數(shù)值大小進(jìn)行比較,從而判定各位置涂層厚度及均勻度的差異。
電磁敲擊裝置7安裝在聲音收集箱內(nèi)的安裝座上,檢測(cè)時(shí)由單片機(jī)控制電磁推桿9撞擊涂層表面,撞擊后由彈簧11對(duì)電磁推桿9復(fù)位,使其回到初始位置。由此可以保證檢測(cè)裝置的每一次檢測(cè)都是在相同的條件下工作,從而可以確保檢測(cè)裝置在工作時(shí)的穩(wěn)定性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性。
3.2 軟件部分
為了更加直觀地顯示由敲擊測(cè)聲法檢測(cè)的聲強(qiáng)峰值(即分貝數(shù)值),對(duì)檢測(cè)結(jié)果實(shí)現(xiàn)定性與定量的比較分析,將聲音強(qiáng)度檢測(cè)裝置通過(guò)USB與端連接,并在PC端安裝與檢測(cè)裝置通訊的軟件。Wensn Sound Link是一種常用的聲音強(qiáng)度檢測(cè)軟件,可以根據(jù)環(huán)境選擇不同的測(cè)量檔位,設(shè)置A/C加權(quán)模式與測(cè)量速度,并能實(shí)時(shí)的檢測(cè)聲音強(qiáng)度,準(zhǔn)確反映檢測(cè)過(guò)程中聲音強(qiáng)度的變化曲線,便于對(duì)數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行比較分析。
4、非金屬基體表面涂層質(zhì)量檢測(cè)實(shí)驗(yàn)及結(jié)果分析
實(shí)驗(yàn)如圖3所示,選取陶瓷基體(絕緣子)表面的橡膠涂層(RTV涂層)作為被測(cè)試樣。圖3中灰色部分無(wú)涂層處)為絕緣子陶瓷基體,紅色部分(有涂層處)為RTV涂層。用敲擊測(cè)聲檢測(cè)裝置對(duì)同一橡膠涂層表面上不同位置(包括薄涂層處、厚涂層處與無(wú)涂層處)進(jìn)行檢測(cè),將所檢測(cè)的數(shù)據(jù)傳給PC端的軟件Wensn Sound Link,并在Wensn Sound Link界面上顯示分貝數(shù)值。
A/C加權(quán)代表分貝檢測(cè)儀內(nèi)部的兩種加權(quán)模式,加權(quán)就是把不同指標(biāo)的數(shù)據(jù),折算為一個(gè)指標(biāo)的數(shù)據(jù)。A加權(quán)是模擬的人耳對(duì)各種不同頻率的感覺不一樣的加權(quán)方法,在測(cè)人的感受噪音時(shí)用A加權(quán)模式,測(cè)得的數(shù)值通常用dB(A)表示,國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)人接觸的噪聲限值用A加權(quán)模式。C加權(quán)對(duì)不同頻率的聲音本質(zhì)上趨近于平坦,而不考慮人的感受,如果檢測(cè)設(shè)備噪音,可以采用這個(gè)模式,比如對(duì)設(shè)備進(jìn)行降噪、測(cè)量機(jī)器工作產(chǎn)生的聲音等,都可以采用此加權(quán)方式來(lái)進(jìn)行測(cè)量,測(cè)得的數(shù)值用dB(C)表示。因此,本實(shí)驗(yàn)中采用C加權(quán)模式。
如圖4所示,左側(cè)數(shù)據(jù)列代表檢測(cè)過(guò)程從開始到結(jié)束每間隔1秒測(cè)得的分貝數(shù)值,右側(cè)圖形代表檢測(cè)過(guò)程分貝數(shù)值的變化曲線,橫坐標(biāo)為時(shí)間(s),縱坐標(biāo)為分貝數(shù)值(dB(C))。通過(guò)實(shí)驗(yàn)檢測(cè)所得的聲強(qiáng)峰值1、2、3分別代表薄涂層處、厚涂層處與無(wú)涂層處的檢測(cè)結(jié)果。
可將檢測(cè)過(guò)程中實(shí)時(shí)所得的數(shù)據(jù)(分貝數(shù)值導(dǎo)入表格中,如圖5所示,更加直觀的顯示實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
4.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析
聲音是由物體的振動(dòng)產(chǎn)生的,而聲音的強(qiáng)度是由振幅和聲源距離決定的,振幅越大產(chǎn)生的聲音強(qiáng)度越大,聲源距離越遠(yuǎn)測(cè)得的聲音強(qiáng)度越小。敲擊測(cè)聲實(shí)驗(yàn)中的檢測(cè)初始條件相同,從而保證聲源距離相同。由于不同厚度的涂層對(duì)敲擊過(guò)程中的緩沖力大小不同,會(huì)使得敲擊所產(chǎn)生聲音的振幅不同,從而導(dǎo)致測(cè)得的聲音強(qiáng)度大小不同。敲擊厚涂層處產(chǎn)生的振幅比薄涂層處小,因此測(cè)得的聲音強(qiáng)度較薄涂層處小。由圖5中數(shù)據(jù)顯示:51.9 dB(C)∼55 dB(C)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)代表實(shí)驗(yàn)過(guò)程中測(cè)得的環(huán)境聲音強(qiáng)度大小,其余實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)代表敲擊過(guò)程中測(cè)得的敲擊實(shí)驗(yàn)聲音強(qiáng)度大小。薄涂層處所產(chǎn)生的峰值數(shù)據(jù)1為76.2 dB(C),厚涂層處所產(chǎn)生的峰值數(shù)據(jù)2為61.4 dB(C),無(wú)涂層處所產(chǎn)生的峰值數(shù)據(jù)3為87.7 dB(C)。
根據(jù)國(guó)網(wǎng)部門的相關(guān)要求,絕緣子表面RTV涂層的合格厚度為0.3 mm∼0.8 mm,經(jīng)過(guò)多次檢測(cè)實(shí)驗(yàn),得出被測(cè)試樣(RTV涂層)的質(zhì)量與聲音強(qiáng)度的關(guān)系如表1所示。
通過(guò)對(duì)比實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)可知:對(duì)于非金屬基體表面不同厚度的涂層,當(dāng)基體硬度大于涂層硬度時(shí),由敲擊測(cè)聲裝置檢測(cè)所得的聲強(qiáng)峰值存在明顯差異。因此,可以通過(guò)此方法判斷并檢測(cè)非金屬基體表面涂層厚度及均勻度等質(zhì)量指標(biāo)。
5、結(jié)論
通過(guò)對(duì)現(xiàn)有涂層質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行分析研究,提出一種新型的涂層質(zhì)量檢測(cè)方法——敲擊測(cè)聲法,可以對(duì)非金屬基體表面涂層質(zhì)量實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè),并詳細(xì)介紹了這種檢測(cè)方法所采用檢測(cè)裝置的組成和工作原理。該檢測(cè)方法的可行性通過(guò)多次實(shí)驗(yàn)得以驗(yàn)證,能有效的檢測(cè)非金屬基體表面涂層質(zhì)量,直觀地顯示檢測(cè)數(shù)據(jù),對(duì)涂層質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。這種檢測(cè)方法簡(jiǎn)單易行,有很高的可靠性,能實(shí)現(xiàn)涂層質(zhì)量的無(wú)損檢測(cè),并且檢測(cè)系統(tǒng)的成本較低,并已應(yīng)用于輸電線路絕緣子RTV檢測(cè),具有良好的推廣價(jià)值和良好的應(yīng)用前景。
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